[发明专利]一种调试信息获取方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种调试信息获取方法、装置、电子设备及存储介质，通过该调试信息获取方法，先通过调试队列接收待显示调试信息，根据待显示调试信息生成第一使能信号；然后通过触发部件接收第一使能信号，根据第一使能信号生成触发信号；在检测到触发信号时，从调试队列中获取待显示调试信息，并存储至缓存部件中；最后从缓存部件中加载待显示调试信息并显示。本申请通过更改触发条件，只有在调试队列接收到待显示信息时才产生触发信号，因此不需要频繁进行调试信息的获取操作，节省了资源，且可以保证每次触发信号产生后都能获得待显示调试信息，即每次都能获取有效调试信息，使得显示输出较为顺畅，进而提高了研发人员的调试效率。

技术领域

本申请涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种调试信息获取方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

通过EMU平台进行芯片验证可以极大地提高仿真效率，因此在验证极大规模的芯片设计时得到广泛应用，芯片在调试时的相关调试信息通过EMU平台输出并显示，且调试信号的显示快慢直接影响着研发人员的调试效率。当前在获取调试信号时，通过高频时钟信号作为触发条件来完成输出调试信息的捕获，然而时钟信号的脉冲过于频繁，在时钟信号的每个脉冲产生时都要进行调试信号的获取操作，会造成很大的时间开销，使得捕捉有效调试信息的性能下降，造成显示输出不顺畅，进而影响研发人员的调试效率。

因此，现有的芯片调试过程存在调试信息输出不顺畅的技术问题，需要改进。

发明内容

本申请实施例提供一种调试信息获取方法、装置、电子设备及存储介质，用以缓解现有的芯片调试过程中调试信息输出不顺畅的技术问题。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：

本申请提供一种调试信息获取方法，包括：

通过调试队列接收待显示调试信息，根据所述待显示调试信息生成第一使能信号；

通过触发部件接收所述第一使能信号，根据所述第一使能信号生成触发信号；

在检测到所述触发信号时，从所述调试队列中获取所述待显示调试信息，并存储至缓存部件中；

从所述缓存部件中加载所述待显示调试信息并显示。

同时，本申请还提供一种调试信息获取装置，包括：

第一接收模块，用于通过调试队列接收待显示调试信息，根据所述待显示调试信息生成第一使能信号；

第二接收模块，用于通过触发部件接收所述第一使能信号，根据所述第一使能信号生成触发信号；

获取模块，用于在检测到所述触发信号时，从所述调试队列中获取所述待显示调试信息，并存储至缓存部件中；

加载模块，用于从所述缓存部件中加载所述待显示调试信息并显示。

在一种实施例中，所述第二接收模块用于根据所述使能信号产生一个脉冲信号。

在一种实施例中，所述获取模块用于在检测到所述脉冲信号的上升沿时，从所述调试队列中获取所述待显示调试信息。

在一种实施例中，所述第一接收模块用于创建调试队列，通过所述调试队列接收第二使能信号；通过所述调试队列接收目标接口传输的待显示调试信息。

在一种实施例中，所述调试信息获取装置还包括创建模块，所述创建模块在所述第一接收模块之前工作，所述创建模块用于通过规范与描述语言创建缓存部件，所述缓存部件携带目标接口标识。

在一种实施例中，所述获取模块还用于在检测到所述触发信号时，从所述调试队列中获取所述待显示调试信息；根据所述目标接口标识，将所述待显示调试信息存储至所述缓存部件中。