[发明专利]一种TDI CCD非感光区域漏光率检测系统及方法

说明书

本发明公开了一种TDI CCD非感光区域漏光率检测系统及方法。包括：编写FPGA信号处理模块的驱动时序单元和图像数据整合单元，搭建图像采集平台；调整FPGA中各谱段的驱动时序，将TDI CCD各谱段有效感光像元紧邻的无效像元一并输出，并在PC机图像采集模块中和有效像元同时显示并存储；将TDI CCD置于均匀光源下，设置TDI CCD成像参数，并在同一参数下分别进行暗场和亮场成像；选取相同成像参数下的暗场和亮场图像，比对处理；判定TDI CCD非感光区域是否存在漏光现象，并通过计算漏光率判定漏光现象的严重程度。本发明能够解决TDI CCD非感光区域不易发觉微漏光现象的问题。

技术领域

本发明涉及一种TDI CCD非感光区域漏光率检测系统及方法，属于CCD漏光检测技术领域。

背景技术

CCD传感器作为光电成像器件，可以将所接收的光子转换为电荷，并在积分时间内积累、存储、转移，最终转变为电压输出。TDI CCD(时间延迟积分ccd图像传感器)因其具有灵敏度高、动态范围大、寿命长、可靠性高等特点，被广泛地应用于光学遥感相机中。

目前国产TDI CCD尚未发展到成熟阶段，成熟型号较少，定制类型号均需大量的应用验证以确保其较优的成像质量，其中对像质影响较大的一类问题即为非感光区域漏光现象。部分新型TDI CCD因设计局限，如部分谱段缺少隔离行等，极易出现非感光区域微漏光现象，该现象会直接影响TDI CCD相机的信噪比和传递函数等指标。针对漏光现象，通常采用转移效率等光电参数测试来表征；但当漏光程度较弱，且CCD像元较多时，常规的光电参数测试无法发现异常，不易发觉微漏光问题。

发明内容

本发明的目的是提出一种TDI CCD非感光区域漏光率检测系统及方法，以解决当TDI CCD非感光区域漏光程度较弱，且CCD像元较多时，常规的光电参数测试不易发觉非感光区域漏光现象的问题。

一种TDI CCD非感光区域漏光率检测系统，所述系统包括电源模块、TDI CCD、驱动模块、FPGA信号处理模块、视频处理模块、接口模块和PC机图像采集模块，所述FPGA信号处理模块通过驱动模块与所述TDI CCD连接，所述TDI CCD通过所述视频处理模块与所述FPGA信号处理模块连接，所述FPGA信号处理模块还通过所述接口模块与所述PC机图像采集模块双向连接，所述电源模块为所述检测系统提供适配的电压。

进一步的，所述电源模块，用于将+30V一次电压转换为测试系统所需的各种电压，并输出至各个所需的功能模块中；

所述驱动模块，用于对所述FPGA信号处理模块产生的各种时序信号进行驱动放大和调整，为所述TDI CCD提供所需的时序信号；

所述FPGA信号处理模块，用于时序信号控制、成像参数配置以及视频数字信号整合缓存及输出；

所述视频处理模块，用于对所述TDI CCD输出的视频信号进行低噪声放大和传输，并通过双采样及模数转换转换为数字信号；

所述接口模块，包括数传接口和通信接口，所述数传接口，用于将图像数据采用高速串行的LVDS发送至所述PC机图像采集模块；所述通信接口，用于接收所述PC机图像采集模块发送的控制信号和配置参数信息，并将配置后状态反馈至所述PC机图像采集模块；

所述PC机图像采集模块，用于配置TDI CCD成像参数并显示配置后状态，配置成功后将接收到的图像数据以约定格式按照谱段进行分离和整合，并在所述PC端实时显示存储和数据处理。

一种TDI CCD非感光区域漏光率检测方法，基于上述的一种TDI CCD非感光区域漏光率检测系统，所述检测方法包括以下步骤：

步骤一、按所采用TDI CCD的使用要求，编写FPGA信号处理模块的驱动时序单元和图像数据整合单元，搭建图像采集平台；