[发明专利]结构监测系统及方法在审

专利信息
申请号: 202011471488.8 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN113007037A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 钟承宪;吴华桐;黄心豪 申请(专利权)人: 财团法人船舶暨海洋产业研发中心
主分类号: F03D17/00 分类号: F03D17/00
代理公司: 深圳市舜立知识产权代理事务所(普通合伙) 44335 代理人: 侯艺
地址: 中国台湾新北市淡*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 结构 监测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种结构监测系统,其特征在于,包含:

复数个标记单元,装设于一结构物件上;

一监测装置,远端监测该复数个标记单元;以及

一数据处理装置,与该监测装置连接,该数据处理装置包含:

一数据接收模块,与该监测装置连接;以及

一数据处理模块,与该数据接收模块连接。

2.如请求项1所述的结构监测系统,其特征在于,该数据处理装置还包含一数据储存模块与该数据接收模块或该数据处理模块连接。

3.如请求项1所述的结构检测系统,其特征在于,该复数个标记单元为电热片。

4.如请求项1所述的结构检测系统,其特征在于,该监测装置为红外热像装置。

5.如请求项1所述的结构检测系统,其特征在于,该监测装置监测每一个标记单元所产生的结构位移。.

6.如请求项5所述的结构检测系统,其特征在于,该数据处理模块依据每一个标记单元的结构位移取得每一个标记单元的一位移信号。

7.如请求项6所述的结构检测系统,其特征在于,该数据处理模块依据该位移信号计算该结构物件的一模态参数。

8.如请求项7所述的结构检测系统,其特征在于,该模态参数包含自然频度、模态振型及阻尼。

9.一种结构监测方法,其特征在于,包含以下步骤:

(A)装设复数个标记单元于一结构物件上;

(B)监测每一个标记单元所产生的结构位移,以取得每一个标记单元的一位移影像;

(C)依据该位移影像,经影像处理取得每一个标记单元的一位移信号;以及

(D)依据每一个标记单元的该位移信号计算该结构物件的一模态参数。

10.如请求项9所述的结构检测系统,于步骤(A)中,该复数个标记单元为电热片。

11.如请求项9所述的结构检测系统,还包含一步骤(E),储存该位移影像、该位移信号或该模态参数。

12.一种结构监测方法,其特征在于,包含以下步骤:

(I)装设复数个标记单元于一结构物件上;

(J)以一时间间隔监测部分标记单元所产生的结构位移,以取得部分标记单元的一位移影像;

(K)重复步骤(J),直至取得每一个标记单元的该位移影像;

(L)依据该位移影像,经影像处理取得每一个标记单元的一位移信号;以及

(M)重组每一个标记单元的该位移信号,并计算该结构物件的一模态参数。

13.如请求项12所述的结构检测系统,于步骤(I)中,该复数个标记单元为电热片。

14.如请求项12所述的结构检测系统,还包含一步骤(N),储存该位移影像、该位移信号或该模态参数。

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