[发明专利]一种分光探测的光衰减器

说明书

本发明提供一种分光探测的光衰减器，包括输入光纤和输出光纤、透镜、反射镜、MEMS芯片、光探测器和固定套管，反射镜设置在MEMS芯片上，MEMS芯片可驱动反射镜转动，从输入光纤输出的输入光可经过透镜后入射至反射镜，经反射镜反射的输出光可经过透镜后入射至输出光纤；输入光纤和输出光纤分别设置在固定套管的毛细孔中，固定套管的外壁设置有安装槽，光探测器设置在安装槽中。通过集成化布置在固定套管上设置光探测器，用光探测器去探测该光纤包层中的部分分光，通过探测到的光能量反馈，来实现对MEMS芯片的衰减调控。

技术领域

本发明涉及光学器件领域，尤其涉及一种分光探测的光衰减器。

背景技术

光衰减器(VOA)和光探测器(PD)是光通信系统中常规的器件，广泛应用于需要控制光功率和探测光功率的场景，比如掺铒光纤放大器(EDFA)等光模块中，现行的解决方案中，都是在光模块中采用VOA和PD两种独立器件，利用预设透反比例的透反件通过光纤熔接的形式连通，继而通过光探测器PD监测对应的光功率，以更好地对光衰减器VOA进行控制。

随着光模块的体积越做越小，VOA和PD这两种独立器件的解决方案就越来越不能适应新的需求，如何降低VOA和PD这两种器件在光模块中占用的空间，是业内普遍关注问题也是需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种利用器件集成化布置对分光探测的光衰减器。

为了实现本发明目的，本发明提供一种分光探测的光衰减器，包括输入光纤和输出光纤、透镜、反射镜、MEMS芯片、光探测器和固定套管，反射镜设置在MEMS芯片上，MEMS芯片可驱动反射镜转动，从输入光纤输出的输入光可经过透镜后入射至反射镜，经反射镜反射的输出光可经过透镜后入射至输出光纤；输入光纤和输出光纤分别设置在固定套管的毛细孔中，固定套管的外壁设置有安装槽，光探测器设置在安装槽中。

由上述方案可见，施加电压驱动MEMS芯片后，在MEMS芯片的驱动下实现反射镜的偏转，从而反射光路发生变化，使得输出光在输出光纤的耦合状态发生改变，部分光入射光纤纤芯，部分光入射到光纤包层中进行传输，在光纤包层中传输的光经过一段距离后光信号消散，而光纤纤芯的光继续传输到外，继而实现光衰减。

由于光纤包层在衰减的时候，该部分的光是在光纤包层中进行传输，一边传输一边耗散到外侧，通过在固定套管上设置光探测器，用光探测器去探测该光纤包层中的部分分光，通过探测到的光能量反馈，来实现对MEMS芯片的衰减调控。

同时采用MEMS芯片的微机械结构，利用在其上设置有反射镜，使得反射镜具有响应快速和小体积等有点，且MEMS微机械结构的镜面在运动过程中，全程无机械磨损，精度高，寿命长，其次，MEMS具有机械光开关的低损耗、低串扰、低偏振敏感性的优点，同时也易于大规模集成。

更进一步的方案是，安装槽位于固定套管的径向外壁上。

更进一步的方案是，光探测器的感光面朝向输出光纤或输入光纤。

由上可见，通过将光探测器设置在固定套管的径向外壁继而能够对包层光进行良好地探测，同时将感光面朝向输出光纤或输入光纤，继而也能够对从包层耗散的光进行探测，继而能够提高探测精度和控制精度。且通过感光面平行于光纤，从而便于装配和小型化集成布置。

更进一步的方案是，输出光纤包括光纤包层和位于光纤包层内的纤芯，光纤包层的表面设置有漏光部，漏光部为采用腐蚀方式形成的漏光毛面或漏光刻口。

更进一步的方案是，光探测器的感光面朝向漏光部。

由上可见，通过在光纤包层上设置漏光部，漏光部可为漏光毛面或漏光刻口，继而可获得稳定包层泄漏光，继而可实现光的稳定探测。