[发明专利]一种有机薄膜晶体管的测试系统

说明书

本发明公开了一种有机薄膜晶体管的测试系统，其组成包括：函数信号发生器，电流放大器，示波器，直流电源，光源系统，测试接口，有机薄膜晶体管单元。本发明组成了一套有机薄膜晶体管静态输出特性、开关特性和光电特性的测试系统，其组成结构是：所述的光源系统照射有机薄膜晶体管，所述的有机薄膜晶体管的栅极、漏极和源极通过测试接口分别与所述的直流电源、函数信号发生器和电流放大器相连，所述的示波器与电流放大器相连，负责显示有机薄膜晶体管的输出特性。所述的上述器件共地连接。该测试系统可以快速准确直观的测试有机薄膜晶体管静态输出特性、开关特性和光电特性。

技术领域：

本发明涉及一种有机薄膜晶体管技术领域，特别涉及一种有机薄膜晶体管的测试系统。

背景技术：

随着有机材料的快速发展，有机薄膜晶体管的制备和应用越来越广泛，在有机薄膜晶体管制备后的初期，进行静态输出特性、开关特性和光电特性的测试是很有必要的，这对于之后改进有机薄膜晶体管的制备方法有很大帮助。

目前，有机薄膜晶体管在测试过程中逐渐趋向于要加入光照对有机薄膜晶体管性能的影响的测试，但是在日常光照中，光的波长无法分离，也就导致了无法分析光的波长和强度等因素对于有机薄膜晶体管性能的影响。因此现有的有机薄膜晶体管的测试系统带有局限性。

发明内容：

针对上述问题，本发明提供了一种有机薄膜晶体管静态输出特性、开关特性和光电特性的测试系统。

上述的目的通过以下的技术法案实现：一种有机薄膜晶体管的测试系统，其组成包括：函数信号发生器，电流放大器，示波器，直流电源，光源系统，测试接口，有机薄膜晶体管单元。本发明组成了一套有机薄膜晶体管静态输出特性、开关特性和光电特性的测试系统，其组成结构是：所述的光源系统照射有机薄膜晶体管，所述的有机薄膜晶体管的栅极、漏极和源极通过测试接口分别与所述的直流电源、函数信号发生器和电流放大器相连，所述的示波器与电流放大器相连，负责显示有机薄膜晶体管的输出特性，所述的上述器件共地连接。该测试系统可以快速准确直观的测试有机薄膜晶体管静态输出特性、开关特性和光电特性。

所述的光源系统，对所述的有机薄膜晶体管单元进行光电测试时，光源系统采用130LP-Xe型可调波长式单色光源系统；对所述的有机薄膜晶体管单元进行动态光照下的开关特性的测试时，光源系统采用频率可调的频闪光源。

所述的测试接口包含G(栅极)S(源极)D(漏极)三组双向接线端口。

所述的有机薄膜晶体管单元包括：有机薄膜二极管、有机薄膜晶体管。

所述的函数信号发生器采用Tektronix AFG3021B型函数信号发生器。

所述的电流放大器采用KEITHLEY 428型电流放大器。

所述的示波器采用Tektronix TDS3054C型示波器。

所述的直流电源采用德科技(安捷伦)E3633A系列直流电源。

有益效果：

本发明的测试系统搭建过程方便，可重复性好，实用价值高。

本发明的测试系统可以单独测试有机薄膜晶体管的静态输出特性，也可以直接测试有机薄膜晶体管的光电特性及开关特性，对于实现多变量并行并发测试系统提供了良好的思路。

附图说明：

通过参照附图详细描述其示范性实例，本发明的上述的和其它的特性和优点将变得更加明显，其中：

图1是有机薄膜晶体管的测试系统结构示意图。

图2是有机薄膜二极管的静态输出特性的测试系统的等效电路。

图3是有机薄膜晶体管的静态输出特性的测试系统的等效电路。