[发明专利]一种天线反射器双面金属薄膜图形整体精确定位方法在审

专利信息
申请号: 202011464916.4 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112736477A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 尚凯文;王瑞;吴敢;曹生珠;魏广;杨建平;骆水莲;赵栋才;格桑顿珠;张延帅 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: H01Q15/00 分类号: H01Q15/00;H01Q15/14
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 田亚琪
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 天线 反射 双面 金属 薄膜 图形 整体 精确 定位 方法
【权利要求书】:

1.一种天线反射器双面金属薄膜图形整体精确定位方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、天线反射器壳体成形后,在反射器裙边设定位置制作正反双面一体化靶标;

步骤二、利用反射器装夹工装,将反射器装夹并固定在刻蚀加工平台上;

步骤三、采用CCD可视放大技术辅助完成天线反射器正面或反面三个靶标点的定位测量。

2.如权利要求1所述的一种天线反射器双面金属薄膜图形整体精确定位方法,其特征在于,步骤一中,所述正反双面一体化靶标即为在反射器裙边加工的通孔,以确保双面靶标点的一致性,所述通孔中心线相互平行且与口径平面垂直,以通孔中心点作为正、反面定位靶标点,其中,正反双面一体化靶标的数量不少于3个。

3.如权利要求1所述的一种天线反射器双面金属薄膜图形整体精确定位方法,其特征在于,步骤一中,对于不能在表面进行开孔的反射器,正反双面一体化靶标即为在反射器正反面对应位置分别粘贴的纸质靶标,分别测量正反面靶标点及反射器型面数据,并将正反面的测量数据转化为同一坐标系下的靶标点数据和反射器型面数据;利用正反面的靶标点依次进行定位及刻蚀加工;其中,正反双面一体化靶标的数量应分别不少于3个。

4.如权利要求1所述的一种天线反射器双面金属薄膜图形整体精确定位方法,其特征在于,步骤二中,所述装夹工装在装夹反射器过程中不产生应力及变形,且后续的刻蚀加工过程中装夹工装与激光刻蚀头无干涉。

5.如权利要求1所述的一种天线反射器双面金属薄膜图形整体精确定位方法,其特征在于,步骤三中,CCD可视放大技术辅助定位测量的具体过程为通过多轴数控加工设备的移动机构和CCD摄像机的捕获功能以及图像采集功能获得视场范围内待加工工件的图像信号,并利用计算机进行图像处理获取工件定位点及特征点在机器坐标系中的坐标值。

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