[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号: | 202011333617.7 | 申请日: | 2020-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN112489002A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
| 发明(设计)人: | 赵鸿燕;蔡浩聪;杨成胡;张焕文 | 申请(专利权)人: | 广东省电子技术研究所 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/33;G06T5/50;G06K9/34;G06K9/62;G01N21/956;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 510630 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:
获取对片式电阻的基板表面拍摄的图像数据,作为原始图像,所述基板表面包括将字符印刷在片式电阻上的印刷区域;
将所述原始图像划分成若干个子图像,每个所述子图像包含一个独立的所述印刷区域;
当所述印刷区域中存在相同的所述字符时,以提高清晰度为目标将所述子图像按照各自所述印刷区域中所述字符的相似度进行融合,得到目标模板图像;
将所述目标模板图像与所述原始图像进行比较、检测字符的缺陷,以确定所述片式电阻是否印刷合格。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述原始图像划分成若干个子图像,包括:
遍历所述原始图像中每个像素的灰度值;
在所述原始图像中基于所述灰度值识别得到若干个所述印刷区域;
确定每个所述印刷区域的边界位置;
将所述原始图像按照所述边界位置划分成若干个子图像。
3.根据权利要求1-2任一所述的方法,其特征在于,所述当所述印刷区域中存在相同的所述字符时,以提高清晰度为目标将所述子图像按照各自所述印刷区域中所述字符的相似度进行融合,得到目标模板图像,包括:
对所述子图像进行筛选,得到包含相同的所述字符的子图像,作为目标子图像;
计算每个所述目标子图像中所述字符的识别得分,所述识别得分表示所述目标子图像之间在所述字符上的相似度;
基于所述识别得分计算每个所述目标子图像的权值;
以提高清晰度为目标将所有所述目标子图像按照各自的所述权值进行加权平均,得到目标模板图像。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述计算每个所述目标子图像中所述字符的识别得分,包括:
针对每个所述目标子图像,计算当前所述目标子图像中的所述字符与其他所述目标子图像匹配的匹配值;
对所述匹配值求和取平均,得到第一数值;
基于所述第一数值计算每个所述目标子图像的识别得分,所述识别得分与所述第一数值之和为1;
所述基于所述识别得分计算每个所述目标子图像的权值,包括:
对所有所述目标子图像的所述识别得分进行求和,得到总得分;
计算每个所述目标子图像的所述识别得分与所述总得分的比值,得到每个所述目标子图像的权值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述针对每个所述目标子图像,计算当前所述目标子图像中的所述字符与其他所述目标子图像匹配的匹配值,包括:
针对每个所述目标子图像,选取当前所述目标子图像中表征所述字符的图像数据,作为候选模板;
计算所述候选模板在其他所述目标子图像中滑动时、每个像素位置的灰度值的标准平方差,作为第二数值;
选取最小的所述第二数值作为当前所述目标子图像中的所述字符与其他所述目标子图像匹配的匹配值。
6.根据权利要求1或2或4或5所述的方法,其特征在于,所述将所述目标模板图像与所述原始图像进行比较、检测字符的缺陷,以确定所述片式电阻是否印刷合格,包括:
从所述目标模板图像中提取表征所述字符的图像数据,作为目标字符图像;
在所述原始图像中搜索与所述目标模板图像匹配的像素坐标,作为目标位置;
在所述原始图像中的所述目标位置上复制所述目标字符图像,得到与所述原始图像大小一致的候选图像;
将所述候选图像与所述原始图像进行比较、检测字符的缺陷,以确定所述片式电阻是否印刷合格。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将所述候选图像与所述原始图像进行比较、检测字符的缺陷,以确定所述片式电阻是否印刷合格,包括:
对所述原始图像进行区域分割,得到原始字符图像,所述原始字符图像用于表征实际印刷在片式电阻上的字符的图像数据;
将所述原始字符图像与所述候选图像中的所述目标字符图像进行差分运算;
根据所述差分运算的结果,确定所述片式电阻是否印刷合格。
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