[发明专利]具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材、制造方法及应用

权利要求书

1.一种具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，

在所述带材的宽度方向，所述带材的中间部位厚度H₀大于带材两侧边缘厚度H_L和H_R，且其差值不大于2.5微米：

H₀-H_L≤2.5微米，且H₀-H_R≤2.5微米。

2.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，所述带材中间部位厚度H₀与所述带材两侧边缘厚度H_L和H_R的厚度差为0.1～2.5微米：

0.1≤H₀-H_L≤2.5微米，且0.1≤H₀-H_R≤2.5微米。

3.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，所述带材中间部位厚度H₀与所述带材两侧边缘厚度H_L和H_R的厚度差为0.5～1.5微米：

0.5≤H₀-H_L≤1.5微米，且0.5≤H₀-H_R≤1.5微米。

4.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，在所述带材的宽度方向，所述带材一侧边缘厚度值与另一侧边缘厚度值之差的绝对值不大于2.0微米，即：

|H_L-H_R|≤2.0微米。

5.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，在所述带材的宽度方向，所述带材一侧边缘厚度值与另一侧边缘厚度值之差的绝对值不大于1.0微米：

|H_L-H_R|≤1.0微米。

6.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，在所述带材的宽度方向，除中间部位和两个边缘外，其它各个测量点的厚度值处于中间厚度值与相应边缘厚度值之间：

H_L≤H_i≤H₀，且H_R≤H_j≤H₀，

式中，i＝1，2，...，m；j＝1，2，...，m。

7.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，在所述带材的宽度方向，任意两个相邻厚度测量点之间的厚度差的绝对值不大于1.5微米。

8.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，所述带材的贴辊面粗糙度的十点平均值R_a≤0.50微米；所述带材的自由面粗糙度的十点平均值R_a≤0.40微米。

9.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，所述带材的叠片系数大于90％。

10.根据权利要求1所述的具有高叠片系数的非晶纳米晶合金带材，其特征在于，所述带材的叠片系数大于92％。