[发明专利]一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备

权利要求书

1.一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的设备包括有底座，设于底座上与底座上下移动连接的高度调节组件，设于高度调节组件上水平转动的第一转轴组件，以及设于第一转轴组件上的第二转轴组件，所述的第二转轴组件包括有第二转轴，驱动第二转轴转动的第二电机，以及与第二转轴的一端固定连接的准直器；所述的设备还包括有与所述的准直器连接的耦合器，以及用于将耦合器返回的光进行功率计算的控制器，所述的第二电机与控制器器连接，所述的底座上还设有用于玻璃片定位的玻片定位工装，玻片定位工装对应准直器设置，玻片定位工装上设有可拆卸的90度标准块。

2.如权利要求1所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的底座上沿垂直于玻片定位工装的方向设有滑轨，所述的高度调节组件滑动设于水平滑轨上，底座上设有驱动高度调节组件在水平滑轨上滑动的第一丝杆电机驱动机构。

3.如权利要求1所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的高度调节组件包括有设于底座上的竖直滑轨，设于竖直滑轨上的沿竖直方向滑动的竖直调节座，以及设于底座上的驱动竖直调节座上下滑动的第二丝杆电机驱动机构，所述的第一转轴组件设于竖直调节座上。

4.如权利要求1所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的第一转轴组件包括有设于高度调节组件上的第一转轴底座，第一转轴底座通过第一转轴与高度调节组件转动连接，高度调节组件上设有驱动第一转轴底座水平转动的涡轮轴电机驱动机构。

5.如权利要求4所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的第二电机设于第一转轴底座上。

6.如权利要求1所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的玻片定位工装包括有水平设置的第一玻片定位工装，第一玻片定位工装上设有用于将玻璃片吸附在第一玻片定位工装上的第一吸孔，第一吸孔与第一气泵连接。

7.如权利要求1所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的玻片定位工装还包括有与水平成角度设置的第二玻片定位工装，对应第二玻片定位工装的侧面设有用于将玻璃片侧面吸附定位的第二吸头，第二吸头与第二气泵连接。

8.如权利要求7所述的一种应用自动耦合反射法测玻璃片角度的设备，其特征在于：所述的第二玻片定位工装上设有长圆孔，所述的第二玻片定位工装通过穿过长圆孔的螺栓与底座可拆卸连接。