[发明专利]一种自带数据处理的测距仪在审
| 申请号: | 202011183067.5 | 申请日: | 2020-10-29 |
| 公开(公告)号: | CN112305518A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
| 发明(设计)人: | 陆华;刘枻航;汪彤彤;沈兴禹;刘玉龙;郭家星;刘哲 | 申请(专利权)人: | 安徽璞石生态建设有限公司 |
| 主分类号: | G01S7/48 | 分类号: | G01S7/48;G01S17/08 |
| 代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 刘生昕 |
| 地址: | 239500 安徽省滁州市全椒县襄河镇*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 数据处理 测距仪 | ||
1.一种自带数据处理的测距仪,包括外壳(1)、底座(6)、数据采集模块、处理模块和数据存储模块,所述外壳(1)包括按键模块(2)和显示模块(3),其特征在于,数据采集模块用于采集目标直线距离、数据推算值、数据规范值、房间号和具体房间部位,当需要测量净高H时,点击测距仪上的净高键(202),测出净高H数据,若操作错误,点击删除键(204)删除该数据,重新点击测距仪上的净高键(202),若操作正确则点击确认键(206),将净高H数据发送至处理模块;当需要测量进深L时,点击测距仪上的进深键(203),测出进深L数据,若操作错误,点击删除键(204)删除该数据,重新点击测距仪上的进深键(203),若操作正确则点击确认键(206),将进深L数据发送至处理模块;当需要测量开间S时,点击测距仪上的开间键(207),测出开间S数据,若操作错误,点击删除键(204)删除该数据,重新点击测距仪上的开间键(207),若操作正确则点击确认键(206),将开间S数据发送至处理模块;将数据推算值、数据规范值、房间号和具体房间部位发送至处理模块;
处理模块接收到净高H、进深L、开间S数据、数据推算值、数据规范值、房间号和具体房间部位后对接受到的净高H、进深L、开间S数据、数据推算值、数据规范值、房间号和具体房间部位进行处理,具体处理步骤为:
步骤一:将接受到的净高H、进深L、开间S和数据推算值根据房间号和具体房间部位分别填入对应表格位置处的H测、L测、S测、H推、L推和S推;
步骤二:根据公式:max(M净高=|H测-H推|),max(M开间=|S测-S推|),max(M进深=|L测-L推|);N净高=|H测max-H测min|,N开间=|S测max-S测min|,N进深=|L测max-L测min|;将计算出的值分别填入对应位置;
步骤三:将计算出的值与数据规范值进行对比,当计算出的值比数据规范值小时,不进行操作;当计算出的值比数据规范值大时,将计算出的值左标记处理;
步骤四:将表格传送至存储模块;
存储模块将接受到的表格储存。
2.根据权利要求1所述的一种自带数据处理的测距仪,其特征在于,点击menu键切换模式,数据采集模块用于采集目标直线距离,点击确认键(206),测量出直线距离,将直线距离数据传送至处理模块;
处理模块将接受到的直线距离数据传送至存储模块;
存储模块将接受到的直线距离数据储存,从第六个的数据开始,每储存一个数据,存储模块将会删除第一个数据,依次类推,存储模块只会储存最近的五个数据。
3.根据权利要求1所述的一种自带数据处理的测距仪,其特征在于,所述外壳(1)上面设有第一安装槽(101),所述第一安装槽(101)内设有按键模块(2),所述按键模块(2)包括开关机键(201)、净高键(202)、进深键(203)、删除键(204)、确认键(206)、开间键(207)和menu键(205),所述开关机键(201)、净高键(202)、进深键(203)、删除键(204)、确认键(206)、开间键(207)和menu键(205)全部固定连接在第一安装槽(101)内,所述外壳(1)上面设有第二安装槽(102),第二安装槽(102)在第一安装槽(101)上面,所述第二安装槽(102)内设有显示模块(3),所述显示模块(3)包括测距仪液晶屏(301)和测距仪镜面(302),所述测距仪液晶屏(301)固定连接在第二安装槽(102)内,所述测距仪镜面(302)在测距仪液晶屏(301)上面与第二安装槽(102)顶面固定连接,所述外壳(1)上端设有第三安装槽(103)和第四安装槽(104),所述第三安装槽(103)内固定连接有激光测头(4),所述第四安装槽(104)内固定连接有圆柱水准泡(5),所述外壳(1)底面固定连接有底座(6)。
4.根据权利要求1所述的一种自带数据处理的测距仪,其特征在于,式中:M净高为净高最大偏差值;M开间为开间最大偏差值;M进深为进深最大偏差值;H测为净高测量值;S测为开间测量值;L测为进深测量值;H推为净高推算值;S推为开间推算值;L推为进深推算值;N净高为净高极差;N开间为开间极差;N进深为进深极差;H测max为最大净高测量值;S测max为最大开间测量值;L测max为最大进深测量值;H测min为最小净高测量值;S测min为最小开间测量值;L测min为最小进深测量值。
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