[发明专利]一种探测器非均匀校正方法和系统

说明书

本申请涉及一种探测器非均匀校正方法、系统、计算设备及存储介质，所述方法包括：对OCC参数列表中第一区域OCC数据中的每一列OCC数据进行同时校正，以使探测器阵列所有像素点输出的像素值的均值最接近预设像素目标值；和/或对OCC参数列表中的第二区域OCC数据中的每个OCC数据分别进行校正，以使每个OCC数据在探测器阵列对应的每个像素点输出的像素值最接近预设像素目标值。本申请提供的技术方案，在探测器成像时对其进行非均匀校正，可以提高校正精度，降低成像后校正的难度。

技术领域

本申请涉及仪器校正技术领域，特别是指一种探测器非均匀校正方法和系统。

背景技术

探测器具有响应快、分辨率高、像元间距小、成本低等众多优点，因此，探测器很受到市场的欢迎。但是，探测器由红外焦平面阵列的材料、制造工艺等影响造成其非均匀性，影响了探测器的测量精度。

目前，校正探测器的非均匀性的方法一般是基于高低温黑体的两点校正，这种方法是在探测器成像后，针对其成像的每个像元响应不同的情况下，将其投影至同一响应下，以实现对其非均匀性的校正。另外，现有技术中校正探测器的非均匀性还有基于红外相机挡片的挡片校正法和基于场景的场景校正法，这两种方法均是在探测器成像后，对探测器工作时产生的温漂进行校正的方法。

综上，现有技术中对探测器的非均匀性校正主要集中在成像后对其进行校正，因此，现有技术的校正方法只校正了成像后的非均匀性，导致测量精度难以提高。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种探测器非均匀校正方法和系统，以能提高探测器的非均匀性校正的精度。

本发明提供的一种探测器非均匀校正方法，包括：

对OCC参数列表中第一区域OCC数据中的每一列OCC数据进行同时校正，以使探测器阵列所有像素点输出的像素值的均值最接近预设像素目标值；和/或

对OCC参数列表中的第二区域OCC数据中的每个OCC数据分别进行校正，以使每个OCC数据在探测器靶面上对应的每个像素点输出的像素值最接近预设像素目标值。

由上，提供了一种探测器在成像时的校正方法，可以提高校正精度，还可以减轻在成像后对探测器校正的负担。

作为第一方面的一种实现方式，所述对OCC参数列表中第一区域OCC数据中的每一列OCC数据进行同时校正，以使探测器阵列所有像素点输出的像素值的均值最接近预设像素目标值，包括：

对所述第一区域OCC数据中的与像素值的变化成正相关的列的OCC数据进行校正；和/或

对所述第一区域OCC数据中的与像素值的变化成负相关的列的OCC数据进行校正。

由上，根据OCC阵列中OCC数据与像素值变化趋势的不同关系进行分别校正，可以使校正结果更接近实际结果。

作为第一方面的一种实现方式，所述对所述第一区域OCC数据中的与像素值的变化成正相关的列的OCC数据进行校正，包括：

S1：初始化OCC数据阵列中所有OCC数据为a，初始化循环计数器i为0，初始化最大循环次数为2ⁿ-1-a与a二者中的最大值；其中，n为OCC数据二进制的位数；

S2：判断循环计数器i是否小于最大循环次数，若所述循环计数器i小于所述最大循环次数，则从待校正的探测器的缓存区读取预设数量的图片，并计算所述预设数量的图片的像素值的时空域均值b；否则，结束本次迭代；

S3：计算所述预设数量的图片的像素值的时空域均值b与预设目标值c之差的绝对值d；

S4：判断所述绝对值d是否小于预设最小值e，若是，则执行S5，否则，则执行S10；