[发明专利]振镜的偏转率的测量方法、装置、系统及计算机存储介质

说明书

本发明公开了一种振镜的偏转率的测量方法，所述振镜的偏转率的测量方法包括：获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像；获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像；根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量；根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率。本发明还公开了一种振镜的偏转率的测量装置、系统及计算机存储介质，通过振镜偏转时的投影图像和振镜未偏转时的投影图像，计算出图像的偏移量，进而确定振镜的偏转率，测试人员根据偏转率即可知晓振镜的偏转效果是否合格，无需测试人员肉眼观测，提高了振镜的检测效率，并且检测结果更加准确。

技术领域

本发明涉及振镜偏转技术领域，尤其涉及振镜的偏转率的测量方法、装置、系统及计算机存储介质。

背景技术

数字光处理技术(DLP，Digital Light Processing)投影系统包括发光部件、数字微镜元件(DMD，Digital Micromirror Device)、振镜以及其他光学元件和结构部件。其中，振镜用于增加图像的解析度，在将产品小型化的同时提高图像的清晰度。

在投影仪出厂时，需要对振镜的偏转效果进行检测，以确保投影仪在投影时的图像高清晰度。振镜的偏转效果一般由测试人员肉眼观测投影出的图像，并根据经验来判断偏转效果是否合格，使得振镜的检测效率较低。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种振镜的偏转率的测量方法，旨在通过投影图像计算振镜的偏转率，以检测振镜的偏转效果是否合格，提高检测效率。

为实现上述目的，本发明提供一种振镜的偏转率的测量方法，所述振镜的偏转率的测量方法包括：

获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像；

获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像；

根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量；

根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率。

可选地，所述根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率的步骤包括：

获取预设标准偏移量；

根据所述预设标准偏移量和所述图像偏移量确定所述振镜的偏转率。

可选地，所述根据所述第一投影图像和所述第二投影图像确定图像偏移量的步骤包括：

获取所述第一投影图像中的第一特征像素点；

确定所述第二投影图像中的第二特征像素点；

根据所述第一特征像素点的坐标和所述第二特征像素点的坐标确定所述图像偏移量。

可选地，所述根据所述第一特征像素点的坐标和所述第二特征像素点的坐标确定所述图像偏移量的步骤包括：

根据所述第一特征像素点的横向坐标值和所述第二特征像素点的横向坐标值确定横向子偏移量；

根据所述第一特征像素点的纵向坐标值和所述第二特征像素点的纵向坐标值确定纵向子偏移量，其中，所述图像偏移量包括所述横向子偏移量以及所述纵向子偏移量，所述偏转率包括横向子偏转率和纵向子偏转率，根据所述横向子偏移量获取所述横向子偏转率，根据所述纵向子偏移量获取所述纵向子偏转率。

可选地，所述获取所述第一投影图像中的第一特征像素点的步骤包括：

确定所述第一投影图像的中心位置；

根据所述中心位置确定所述第一特征像素点。

可选地，所述确定所述第二投影图像中的第二特征像素点的步骤包括：