[发明专利]振镜的偏转率的测量方法、装置、系统及计算机存储介质

权利要求书

1.一种振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述振镜的偏转率的测量方法包括：

获取投影仪的振镜偏转时所述投影仪投影的第一投影图像；

获取所述振镜未偏转时所述投影仪投影的第二投影图像；

获取所述第一投影图像中的第一特征像素点；

确定所述第二投影图像中的第二特征像素点；

根据所述第一特征像素点的横向坐标值和所述第二特征像素点的横向坐标值确定横向子偏移量，和/或根据所述第一特征像素点的纵向坐标值和所述第二特征像素点的纵向坐标值确定纵向子偏移量；

根据图像偏移量获取所述振镜的偏转率，其中，所述图像偏移量包括所述横向子偏移量和/或所述纵向子偏移量，所述偏转率包括横向子偏转率和/或纵向子偏转率，根据所述横向子偏移量获取所述横向子偏转率，和/或根据所述纵向子偏移量获取所述纵向子偏转率。

2.如权利要求1所述的振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述根据所述图像偏移量获取所述振镜的偏转率的步骤包括：

获取预设标准偏移量；

根据所述预设标准偏移量和所述图像偏移量确定所述振镜的偏转率。

3.如权利要求1所述的振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述获取所述第一投影图像中的第一特征像素点的步骤包括：

确定所述第一投影图像的中心位置；

根据所述中心位置确定所述第一特征像素点。

4.如权利要求1所述的振镜的偏转率的测量方法，其特征在于，所述确定所述第二投影图像中的第二特征像素点的步骤包括：

确定所述第一特征像素点所在的第一图像区域；

获取所述第二投影图像中与所述第一图像区域的相似度大于预设阈值的第二图像区域；

确定所述第二图像区域中的所述第二特征像素点。

5.一种振镜的偏转率的测量装置，其特征在于，所述振镜的偏转率的测量装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的振镜的偏转率的测量程序，所述振镜的偏转率的测量程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的振镜的偏转率的测量方法的步骤。

6.一种振镜的偏转率的测量系统，其特征在于，所述振镜的偏转率的测量系统包括：

半透明幕布，用于显示投影仪发出的投影图像；

图像采集装置，设置于所述半透明幕布背离所述投影仪的一侧，并用于采集所述半透明幕布上显示的投影图像；

如权利要求5所述的振镜的偏转率的测量装置，用于获取所述图像采集装置采集的所述投影图像。

7.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有振镜的偏转率的测量程序，所述振镜的偏转率的测量程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的振镜的偏转率的测量方法的步骤。