[发明专利]带位置输入功能的显示装置在审
| 申请号: | 202011105720.6 | 申请日: | 2020-10-15 |
| 公开(公告)号: | CN112698534A | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
| 发明(设计)人: | 富永真克;吉田昌弘 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
| 主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1343;G02F1/1333;G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 叶乙梅 |
| 地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 位置 输入 功能 显示装置 | ||
1.一种带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,具备:
像素;
像素配线,其传送向所述像素供给的信号;
信号供给部,其与所述像素配线中的一个端部连接并供给信号;
显示区域,其配置有所述像素并显示图像并且以供所述像素配线横穿的方式延伸配置,所述显示区域被划分为在所述像素配线的延伸方向上位于所述信号供给部侧的第一区域和在所述延伸方向上位于与所述信号供给部侧相反侧的第二区域;
第一位置检测电极,其配置在所述第一区域并与进行位置输入的位置输入体之间形成静电电容,并检测所述位置输入体的输入位置;
第二位置检测电极,其配置在所述第二区域并与所述位置输入体之间形成静电电容,并检测所述输入位置;
第一位置检测配线,其配置为在所述第一区域与所述像素配线并行且与所述像素配线重叠,并与所述信号供给部及所述第一位置检测电极连接;以及
第二位置检测配线,其配置为以跨所述第一区域及所述第二区域的形式与所述像素配线并行且与所述像素配线重叠,并与所述信号供给部及所述第二位置检测电极连接。
2.根据权利要求1所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
所述带检测位置输入功能的显示装置具备:
下层侧导电膜;
上层侧导电膜,配置在比所述下层侧导电膜靠上层侧;以及
中间导电膜,位于所述下层侧导电膜与所述上层侧导电膜的中间,
所述第一位置检测配线由所述下层侧导电膜及所述上层侧导电膜中的一个构成,所述第二位置检测配线的配置在所述第一区域的第一区域侧第二位置检测配线结构部由所述下层侧导电膜及所述上层侧导电膜中的另一个构成,所述像素配线由所述中间导电膜构成。
3.根据权利要求2所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
所述第一位置检测配线由所述上层侧导电膜构成,所述第二位置检测配线的所述第一区域侧第二位置检测配线结构部由所述下层侧导电膜构成。
4.根据权利要求3所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
所述第二位置检测配线具有配置在所述第二区域的第二区域侧第二位置检测配线结构部,
所述第二区域侧第二位置检测配线结构部具有第二位置检测电极连接部,所述第二位置检测电极连接部由所述上层侧导电膜构成并与所述第二位置检测电极连接,且所述第二位置检测电极连接部的一部分与所述第一区域侧第二位置检测配线结构部重叠并且通过在介于之间的绝缘膜开口形成的中继接触孔连接。
5.根据权利要求4所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
所述第二区域侧第二位置检测配线结构部具有第二位置检测电极非连接部,所述第二位置检测电极非连接部由所述下层侧导电膜构成并配置为与所述第二位置检测电极连接部重叠,且与所述第一区域侧第二位置检测配线结构部相连。
6.根据权利要求4所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
具备非位置检测配线,所述非位置检测配线由所述下层侧导电膜构成并配置为在所述第二区域与所述像素配线及所述第二区域侧第二位置检测配线结构部重叠,并与所述第一区域侧第二位置检测配线结构部为非连接。
7.根据权利要求6所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
向所述非位置检测配线供给共用电位。
8.根据权利要求4~7中的任一项所述的带检测位置输入功能的显示装置,其特征在于,
具备中间电极,所述中间电极配置为与所述第二位置检测电极连接部及所述第一区域侧第二位置检测配线结构部双方重叠并由所述中间导电膜构成,
所述中间电极与所述第一区域侧第二位置检测配线结构部通过在介于之间的绝缘膜开口形成并构成所述中继接触孔的第一中继接触孔连接,并且与所述第二位置检测电极连接部通过在介于之间的绝缘膜开口形成并构成所述中继接触孔的第二中继接触孔连接。
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