[发明专利]一种扫描锁定电路、安全隔离装置、芯片及安全隔离方法

说明书

本发明提供了扫描锁定电路、安全隔离装置、芯片及安全隔离方法，电路包括若干逻辑处理链路，每一条逻辑处理链路均包括依次串联的输入异或门、测试扫描链和输出异或门，任一输入异或门的输入端均连接第一信号输入端、第二信号输入端、第三信号输入端，任一输出异或门的输入端均连接信号输出端、第二信号输入端、第三信号输入端；第二信号输入端、第三信号输入端分别连接一与门的输入端，与门的输出端分别与每一个输出异或门的输入端连接；第二信号输入端、第三信号输入端分别连接一与非门的输入端，所述与非门的输出端分别与每一个输出异或门的输入端连接。本发明在生产厂测试芯片前后实现IC功能的锁定和激活，从而有效保护开发者的知识产权。

技术领域

本发明涉及芯片设计技术领域，尤其是一种扫描锁定电路、安全隔离装置、芯片及安全隔离方法。

背景技术

在集成电路(IC)芯片的设计开发过程中，设计者将设计完成后的IP(知识产权)核等功能单元交付给生产厂，由生产厂生产晶圆和模具后进行测试，测试通过后进行芯片的装配和封装后最终投入到市场。

然而，一些不受信任的芯片生产厂可能会在公开市场上销售未经过测试、非法复制、假冒篡改的IC芯片，并且随着假冒技术复杂程度的提高，越来越难发现假冒的IC芯片。

因此有必要对芯片的生产加工过程进行安全控制，维护芯片开发者的自身权益。

发明内容

本发明提供了一种芯片测试的安全隔离装置、方法及芯片，用于解决现有芯片生产加工过程安全控制不完善的问题。

为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明第一方面提供了一种扫描锁定电路，包括第一信号输入端、第二信号输入端、第三信号输入端、信号输出端、若干逻辑处理链路，每一条逻辑处理链路均包括依次串联的输入异或门、测试扫描链和输出异或门，任一输入异或门的输入端均连接第一信号输入端、第二信号输入端、第三信号输入端，任一输出异或门的输入端均连接信号输出端、第二信号输入端、第三信号输入端；所述第二信号输入端、第三信号输入端分别连接一与门的输入端，所述与门的输出端分别与每一个输出异或门的输入端连接；所述第二信号输入端、第三信号输入端分别连接一与非门的输入端，所述与非门的输出端分别与每一个输出异或门的输入端连接。

本发明第二方面提供了一种安全隔离装置，所述的装置包括上述的扫描锁定电路，以及功能锁定模块，用于实现对功能逻辑单元和IP核的锁定；一次性可编辑模块，用于生成并存储随机值，基于随机值生成第一密钥和第二密钥；测试解锁模块，用于生成并输出测试解锁信号至扫描锁定电路，以实现对测试功能的解锁；扫描锁定模块，用于生成并输出扫描锁定信号至扫描锁定电路，以实现对扫描功能的锁定；功能解锁模块，用于生成并输出功能解锁信号对功能逻辑单元和IP核进行解锁。

进一步的，所述的功能锁定模块包括：

功能逻辑锁定单元，用于利用锁定信号锁定写保护引脚，实现对功能逻辑单元的写保护；

IP核锁定单元，用于利用使能信号控制临时授权文件生效，实现对IP核的锁定。

进一步的，所述的一次性可编辑模块包括：

随机值生成单元，用于使用随机方式生成随机值；

公钥生成单元，用于基于加密算法生成第一公钥、第一私钥、第二公钥、第二私钥；

第一密钥生成单元，用于使用第一私钥和随机值加密生成第一密钥；

第二密钥生成单元，用于使用第二私钥和随机值加密生成第二密钥；

存储单元，用于存储随机值。

进一步的，所述的测试解锁模块包括：

第一明文生成单元，用于利用第一公钥解密第一密钥，恢复出第一明文；