[发明专利]一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法有效
| 申请号： | 202011077799.6 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112461910B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 王伟民;张昊;闫芝成 | 申请（专利权）人： | 山东大学 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张晓鹏 |
| 地址： | 250061 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 利用 电流 测试 条带 钝化 转变 电位 方法 | ||
1.一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：包括如下步骤：
将非晶条带置于三电极工作站中，测试TAFEL曲线，得到钝化平台，从钝化平台上选取电位值点；
针对选取的电位值点，按照恒电流法测试，得到非晶条带的转变电位；
测试完转变电位后，还包括进行显微形貌分析的步骤。
2.根据权利要求1所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：电位值点的数量为5-9个。
3.根据权利要求2所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：电位值点的数量为7个。
4.根据权利要求1所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：每个电位值点处对应测试600-1200秒恒电位和400-1000秒开路电位，进而得到转变电位。
5.根据权利要求4所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：每个电位值点处对应测试600秒恒电位和400秒开路电位，进而得到转变电位。
6.根据权利要求1所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：测试温度为20-35℃。
7.根据权利要求1所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：所述非晶条带为铁基非晶条带。
8.根据权利要求7所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：所述铁基非晶条带为Fe87-xB13Nbx，x＝0,7或10。
9.根据权利要求8所述的利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，其特征在于：铁基非晶条带为Fe87-xB13Nbx，x＝0,7或10，的电位值点为-0.6VSCE、-0.5VSCE、-0.4VSCE、-0.3VSCE、-0.2VSCE、-0.1VSCE和0VSCE。
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