[发明专利]铸造单晶籽晶制备方法有效

专利信息
申请号: 202011033536.5 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN112144103B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 陈发勤;刘世龙;李易成;李春林;梁学勤 申请(专利权)人: 宜昌南玻硅材料有限公司;中国南玻集团股份有限公司
主分类号: C30B11/14 分类号: C30B11/14
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 成钢
地址: 443007 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 铸造 籽晶 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种铸造单晶籽晶制备方法,其特征在于包括如下步骤:

S1:将直拉单晶棒的头部和尾部去除;

S2:将直拉单晶棒头部的切割面定义为头面,直拉单晶棒尾部的切割面定义为尾面;用金刚笔在所述的头面上刻“T”字形标识,“T”字形标识的深度为H,以“T”字形为标准,“T”字的上下左右四个棱线分别为a、b、c和d;从正视于头面角度看,a、b、c和d构成了正方形,正方形以头面圆心为基准旋转X角度,a、b、c和d分别旋转至a’、b’、c’和d’位置;以a’、b’、c’和d’对应的棱线为基准进行去皮操作,得到单晶方棒;

S3:单晶方棒的四个侧面分别定义为一号面、二号面、三号面和四号面,使用金刚笔在一号面的左侧或右侧上刻画一条竖线作为标记线,标记线的深度为H,标记线保证在后续的清洗过程中不会被洗掉;

S4:将单晶方棒从头面向尾面横向切割成若干个等高的单晶籽晶;

S5:采用步骤S2-S4得到的单晶籽晶定义为X单晶籽晶;标记线所在的一侧为一号面,根据标记线左右侧的位置判断头面和尾面,X单晶籽晶的其它侧面以一号面为基准沿顺时针方向依次为二号面、三号面和四号面;X单晶籽晶上下面分别为头面和尾面;

S6:X单晶籽晶进行清洗;

X单晶籽晶清洗过程为:

S6.1:利用高纯水和超声波对X单晶籽晶进行清洗,温度控制在61-63℃范围内,时间控制在110-130秒内,洗掉X单晶籽晶表面附着的杂质;

S6.2:利用高纯水、超声波和碱对X单晶籽晶进行清洗,酸碱度标准为PH=14,温度控制在88-90℃范围内,时间为98-102秒;

S6.3:再次重复步骤S6.1,洗掉残留碱;

S6.4:利用热风进行烘干处理,温度控制在96-98℃范围内。

2.根据权利要求1所述的铸造单晶籽晶制备方法,其特征在于:H的取值范围为0.01-0.02mm。

3.根据权利要求2所述的铸造单晶籽晶制备方法,其特征在于:标记线设置在一号面的左侧。

4.根据权利要求3所述的铸造单晶籽晶制备方法,其特征在于:在步骤S2中,a、b、c和d构成了正方形旋转角度为Y时,标记线的数量为两条,则切割得到的单晶籽晶为Y单晶籽晶,X和Y的差值为28°。

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