[发明专利]一种温度传感器

说明书

本发明涉及一种温度传感器，包括壳体、激光器、探测器、起偏器、晶体和检偏器；所述激光器和所述探测器设置在所述壳体内两侧，所述晶体设置在所述激光器和所述探测器之间，所述起偏器设置在所述激光器和所述晶体之间，所述检偏器设置在所述探测器和所述晶体之间。本发明根据不同温度下晶体内部双折射同，干涉光谱也不同，通过检测光谱变化来检测温度大小，温度检测更精准。

技术领域

本发明涉及温度检测技术领域，特别是涉及一种温度传感器。

背景技术

温度是科学技术中最基本的物理量之一，物理、化学、热力学、飞行力学、流体力学等学科都离不开温度，它也是工业生产中最普遍最重要的参数之一。许多化学反应离开合适的温度就不能正常进行甚至不能进行。没有合适的温度炉窑就不能炼制出合格的产品。没有合适的温度环境，农作物就不能正常生长、许多电子仪器就不能正常工作、粮仓的储粮就会变质霉烂、家禽的孵化也不能进行。可见，温度的测量与控制十分重要。

而现有的温度测量装置一般结构复杂，成本高，测量精度也往往不尽人意。

发明内容

本发明的目的是提供一种温度传感器，以提高温度检测的精准度。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种温度传感器，包括壳体、激光器、探测器、起偏器、晶体和检偏器；所述激光器和所述探测器设置在所述壳体内两侧，所述晶体设置在所述激光器和所述探测器之间，所述起偏器设置在所述激光器和所述晶体之间，所述检偏器设置在所述探测器和所述晶体之间。

可选地，所述壳体为圆柱形壳体。

可选地，还包括多个热膨胀结构，所述晶体通过多个所述热膨胀结构与所述壳体连接，所述壳体与所述热膨结构连接的部分为镂空设计。

可选地，所述热膨胀结构的厚度为均匀设计。

可选地，所述热膨胀结构的厚度为不均匀设计。

可选地，各所述热膨胀结构的膨胀系数不同。

可选地，所述起偏器和所述检偏器均为偏振片。

根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：

本发明提供了一种温度传感器，包括壳体、激光器、探测器、起偏器、晶体和检偏器；所述激光器和所述探测器设置在所述壳体内两侧，所述晶体设置在所述激光器和所述探测器之间，所述起偏器设置在所述激光器和所述晶体之间，所述检偏器设置在所述探测器和所述晶体之间。本发明根据不同温度下晶体内部双折射同，干涉光谱也不同，通过检测光谱变化来检测温度大小，温度检测更精准。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的温度传感器的结构图；

图2为本发明实施例提供的晶体、热膨胀结构和壳体之间的连接结构图；

图3为本发明实施例提供的厚度不均匀设计的热膨胀结构的示意图；

图4为本发明实施例提供的膨胀系数不同的热膨胀结构的示意图。

符号说明：1-壳体，2-激光器，3-探测器，4-起偏器，5-晶体，6-检偏器，7-热膨胀结构。

具体实施方式