[发明专利]基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法及系统

权利要求书

1.一种基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法，其特征在于，包括：

使用平行板结构的旋转流变测试，并在测试过程中将转子半径设为定值，将转子的转速、剪切面的材料和剪切面的间距设为变量；

当检测到所述转子的转速变化时，对流场拓扑结构不变的流场进行无差压缩，得到简单剪切流场模型；

根据所述简单剪切流场模型，得到壁面滑移曲线；

所述使用平行板结构的旋转流变测试，包括：

先测试无滑移壁面或与流体间滑移特性已知的壁面，后测试特性未知的壁面。

2.根据权利要求1所述的基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法，其特征在于，所述先测试无滑移壁面或与流体间滑移特性已知的壁面，包括：

进行差分或微分处理，得到流体精确的流变曲线；

根据所述流体精确的流变曲线，确定对应的模型拟合出流体的本构方程。

3.根据权利要求2所述的基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法，其特征在于，所述后测试特性未知的壁面，包括：

进行差分或微分处理，得到简单剪切形式的精确方程；

基于所述简单剪切形式的精确方程和所述流体的本构方程，得到流体与固体界面间的滑移曲线。

4.根据权利要求3所述的基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法，其特征在于，所述进行差分或微分处理，得到流体精确的流变曲线，包括：

通过改变剪切面的间距，从而改变剪切流动和壁面滑移在总移动速度的占比，以实现所述剪切流动和壁面滑移的解耦。

5.根据权利要求4所述的基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法，其特征在于，在所述通过改变剪切面的间距，从而改变剪切流动和壁面滑移在总移动速度的占比，以实现所述剪切流动和壁面滑移的解耦之后，所述方法还包括：

根据解耦获得的解耦方程，变换壁面间距，以提高数据的准确性。

6.根据权利要求5所述的基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若不能获取无滑移壁面或与流体间滑移特性已知的壁面，则选用两块相同的特性未知壁面进行测试。

7.一种基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的系统，其特征在于，包括：

测试模块，用于使用平行板结构的旋转流变测试，并在测试过程中将转子半径设为定值，将转子的转速、剪切面的材料和剪切面的间距设为变量，其中，所述测试模块具体用于，先测试无滑移壁面或与流体间滑移特性已知的壁面，后测试特性未知的壁面；

无差压缩模块，用于当检测到所述转子的转速变化时，对流场拓扑结构不变的流场进行无差压缩，得到简单剪切流场模型；

曲线计算模块，用于根据所述简单剪切流场模型，得到壁面滑移曲线。

8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法的步骤。

9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述基于平行板流变测试得到壁面滑移曲线的方法的步骤。