[发明专利]一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法

说明书

本发明属于铝带压延制造技术领域，公开了一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法。其组成成分及质量百分比为：Si 0.1％，Fe 0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量为Al。本发明的工艺流程包括熔炼、铸轧、粗轧，切边，精轧，成品退火等步骤，本发明制成的电容器外壳抗拉强度75‑85Mpa，延伸率可达30％以上，具有优越的加工性能，低强度，塑性好，延伸高，制耳率低，大大提升了加工效率。

技术领域

本发明涉及一种低制耳低硬度电容器外壳及其制备方法，属于铝带压延制造技术领域。

背景技术

电容器是一种容纳电荷的器件，是电子产品不可或缺的关键元件，被广泛应用在电子产品电脑产品、通讯产品、仪器仪表、自动化控制、光电及军工领域，发展前景十分可观。而制耳率高一直是电容器外壳的一大难题。

发明内容

本发明旨在研究出低制耳，低硬度、加工性稳定的电容器外壳。基于本发明研究低制耳电容器外壳的目的，本发明提供的技术方案如下：

一种低制耳低硬度电容器外壳，本发明提出一种新的合金技术方案，其特征在于：其原料组成成分及质量百分比为：Si≤0.1％，Fe 0.18～0.28％，Cu≤0.03％，Mn≤0.01％，Zn≤0.03％，Ti≤0.03％，余量为Al。

本发明还提供一种低制耳低硬度电容器外壳其制备方法，包括如下步骤：

将上述原料充分搅拌均匀进行熔炼，熔炼后铸轧，铸轧后的铝卷成品厚度为6.2±0.3mm；将铸轧成品卷粗轧冷轧至0.7mm厚度，进行纵剪切边，切边后进行精轧轧制至成品厚度0.48mm；260℃退火4h，继续高温380℃保温18-26h。

进一步的，铸轧速度为800～1000mm/min，铸轧区为50～65mm。

进一步的，熔炼温度为730～750℃，倒炉温度为735～750℃。

进一步的，铸轧生产前箱温度为693～697℃。

进一步的，熔炼时采用精炼剂730℃精炼20min，740℃精炼20min。

进一步的，除气箱箱温度控制725℃，氩气压力控制0.2Mpa，气流量控制2.0m3/h，转子速度控制550rpm。

进一步的，过滤箱温度控制715℃，使用30目+40目过滤板过滤。

进一步的，铸嘴开口度控制7.5mm，铸轧线速度控制900mm/min。

进一步的，纵剪切边成1480mm宽。

本发明基于合金成分技术方案，还提供了一种本发明合金成分体系下的压延控制方法，其步骤如下：

熔炼：熔炼时原料充分搅拌均匀，熔炼温度为730～750℃，倒炉温度为735～750℃；

铸轧：铸轧生产前箱温度为693～697℃，铸轧铝卷成品厚度为6.2±0.3mm；

冷轧：将铸轧成品卷粗轧冷轧至0.7厚度，进行纵剪切边，切边后进行精轧轧制至成品厚度；

退火：精轧轧制至成品厚度0.48mm进行260℃退火4h，继续高温380℃保温18-26h。

有益效果