[发明专利]线损校准方法、装置、系统及计算机可读存储介质有效
| 申请号: | 202010978691.8 | 申请日: | 2020-09-16 |
| 公开(公告)号: | CN112019279B | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
| 发明(设计)人: | 张志涛;聂奇;宫立鹏 | 申请(专利权)人: | 歌尔科技有限公司 |
| 主分类号: | H04B17/11 | 分类号: | H04B17/11;H04B17/21 |
| 代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 梁馨怡 |
| 地址: | 266104 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 校准 方法 装置 系统 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种线损校准方法,其特征在于,所述线损校准方法包括以下步骤:
在检测到射频测试系统处于第一连接状态时,控制无线通信测试仪的第一端口发射第一预设功率的第一信号,并获取功率计接收到的所述第一信号的第一接收功率;
在检测到射频测试系统处于第二连接状态时,控制无线通信测试仪的第一端口发射第二预设功率的第二信号,并获取无线通信测试仪的第二端口接收到的所述第二信号的第二接收功率;
根据所述第一预设功率、所述第一接收功率、所述第二预设功率和所述第二接收功率,计算得到线损补偿值,并基于所述线损补偿值对所述射频测试系统进行校准;
其中,所述根据所述第一预设功率、所述第一接收功率、所述第二预设功率和所述第二接收功率,计算得到线损补偿值的步骤包括:
根据所述第一预设功率、所述第一接收功率、所述第二预设功率和所述第二接收功率,计算得到第一线损值;
获取第二线损值,所述第二线损值是通过所述射频测试系统对金板进行测试得到的;
计算所述第一线损值与所述第二线损值之间的第三差值;
将所述第三差值与预设阈值进行比对,并根据比对结果确定得到线损补偿值;
其中,所述获取第二线损值的步骤包括:
启动可控制射频测试系统的金板测试模式,并将所述金板固定在工装中进行测试,控制所述金板按照既定发射功率向无线通信测试仪发送射频信号,计算所述既定发射功率同测试仪所接收射频信号的功率的差值,得到金板实测值,计算金板标样值和金板实测值的差值,得到第二线损值。
2.如权利要求1所述的线损校准方法,其特征在于,所述根据所述第一预设功率、所述第一接收功率、所述第二预设功率和所述第二接收功率,计算得到线损补偿值的步骤包括:
计算所述第一预设功率与所述第一接收功率之间的第一差值;
计算所述第二预设功率与所述第二接收功率之间的第二差值;
对所述第二差值和所述第一差值作减法运算,得到线损补偿值。
3.如权利要求2所述的线损校准方法,其特征在于,所述预设阈值包括第一预设阈值,所述将所述第三差值与预设阈值进行比对,并根据比对结果确定得到线损补偿值的步骤包括:
检测所述第三差值是否小于或等于所述第一预设阈值;
若所述第三差值小于或等于所述第一预设阈值,则确定线损补偿值为所述第一线损值。
4.如权利要求3所述的线损校准方法,其特征在于,所述预设阈值还包括第二预设阈值,所述第二预设阈值大于所述第一预设阈值,所述检测所述第三差值是否小于或等于所述第一预设阈值的步骤之后,还包括:
若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则检测所述第三差值是否小于或等于所述第二预设阈值;
若所述第三差值大于所述第一预设阈值,且小于或等于所述第二预设阈值,则根据所述第三差值和预设比例计算得到补偿差值,根据所述补偿差值和所述第一线损值计算得到线损补偿值。
5.如权利要求4所述的线损校准方法,其特征在于,所述检测所述第三差值是否小于或等于所述第二预设阈值的步骤之后,还包括:
若所述第三差值大于所述第二预设阈值,则生成对应的校准失败的提示信息。
6.如权利要求1至5中任一项所述的线损校准方法,其特征在于,所述第一连接状态为所述无线通信测试仪的第一端口通过SMA-SMA射频线与所述功率计连接;所述第二连接状态为所述无线通信测试仪的第一端口通过SMA-SMA射频线与射频探针相匹配的套筒连接,所述射频探针通过SMA-SMA射频线与屏蔽箱、所述无线通信测试仪的第二端口连接。
7.一种线损校准装置,其特征在于,所述线损校准装置包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的校准程序,所述校准程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的线损校准方法的步骤。
8.一种线损校准系统,其特征在于,所述线损校准系统包括如权利要求7所述的线损校准装置和射频测试系统,其中,所述射频测试系统包括无线通信测试仪和功率计。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有校准程序,所述校准程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的线损校准方法的步骤。
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