[发明专利]提升固态存储设备可靠性的方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明涉及一种提升固态存储设备可靠性的方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：按照实际Retention Time间隔定期扫描固态存储设备的全盘有效数据；依次扫描数据块中的数据页，获取数据页的错误Bit数；判断错误Bit数是否大于Retention错误阈值；若大于Retention错误阈值，则将对应数据块中的有效数据搬移到其他有效的数据块中。本方案按照实际Retention Time间隔定期扫描固态存储设备的全盘有效数据，并找出将要出现Retention问题或已经出现Retention问题的数据块，并将数据块上的有效数据搬移，避免有效数据出错，提高固态存储设备可靠性；通过控制单位时间内的扫描的数据量，避免扫描过程对固态存储设备的性能造成影响。

技术领域

本发明涉及固态存储设备领域，更具体地说是指一种提升固态存储设备可靠性的方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

固态存储设备，也称为SSD(Solid State Disk或Solid State Drive)。

SSD中的存储介质是NAND Flash，NAND Flash由存储单元阵列构成，而存储单元的物理特性会随着时间的推移发生变化，这种物理特性的变化可能导致此前存储在存储单元中的数据发生错误，若出错的存储单元数量超过ECC的纠错能力，会导致写入NAND中的数据无法读出，这种问题被称为SSD Retention问题。

现有的SSD后台扫描通常是在Host Idle的情形下执行，但SSD可能长时间处于工作状态，在此种情形下后台扫描一直不能被触发，有可能导致SSD中的数据因Retention问题丢失。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的总体背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种提升固态存储设备可靠性的方法、装置、计算机设备及存储介质。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明提出一种提升固态存储设备可靠性的方法，包括以下步骤：

按照实际Retention Time间隔定期扫描固态存储设备的全盘有效数据；

依次扫描数据块中的数据页，获取数据页的错误Bit数；

判断错误Bit数是否大于Retention错误阈值；

若大于Retention错误阈值，则将对应数据块中的有效数据搬移到其他有效的数据块中；

若不大于Retention错误阈值，则在一个扫描时间片之后，重新执行依次扫描数据块中的数据页，获取数据页的错误Bit数的步骤。

第二方面，本发明提出一种提升固态存储设备可靠性的装置，包括：

定期扫描单元，按照实际Retention Time间隔定期扫描固态存储设备的全盘有效数据；

错误获取单元，用于依次扫描数据块中的数据页，获取数据页的错误Bit数；

错误判断单元，用于判断错误Bit数是否大于Retention错误阈值，若不大于Retention错误阈值，则在一个扫描时间片之后，重新执行依次扫描数据块中的数据页，获取数据页的错误Bit数的步骤；

数据搬移单元，用于在大于Retention错误阈值时，将对应数据块中的有效数据搬移到其他有效的数据块中。

第三方面，本发明提出一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述提升固态存储设备可靠性的方法。