[发明专利]一种开关拨动寿命的测试装置

说明书

本发明公开了一种开关拨动寿命的测试装置，包括：基板；夹持组件，所述夹持组件用以夹持被测产品；驱动组件，所述驱动组件包括沿所述基板的延伸方向设置的偏心轴；和拨动组件，所述拨动组件包括可同步运动的转换板和拨叉，所述转换板设有和所述偏心轴相连的连接孔；当所述偏心轴做偏心旋转运动时，所述偏心轴相较所述连接孔在第一直线方向上运动，且所述偏心轴带动所述转换板在与所述第一直线方向垂直的第二直线方向上运动，以使所述拨叉拨动被测产品的开关。上述开关拨动寿命的测试装置，可以避免人工参与拨动，且拨动的可靠性和一致性得到显著提升，能够真实反应出被测产品的使用寿命。

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及一种开关拨动寿命的测试装置。

背景技术

目前，大多数电子设备均设有拨动开关，通过手部触控拨动开关移动，从而实现电子设备的开启和停机等功能。

作为电子设备的零部件之一，拨动开关的使用寿命也是影响电子设备质量的关键因素之一，同时为了测试电子设备的运行可靠性，也需要通过触控拨动开关来实现检测。

在现有技术中，为了实现对使用寿命进行测试，通常会采用人工拨动的方式，测试人员利用手部往复的触控拨动开关，以使拨动开关在不同功能之间切换，以进行寿命测试。

然而采用上述的测试方式，由于拨动的次数往往是以数十万次为单位进行的，因此测试人员的劳动强度很高，体力消耗巨大，进而致使测试人员无法始终保持拨动的一致性，对于测试结果的真实性也会大打折扣，无法真实的反应出电子设备的使用寿命。

综上可知，如何降低在开关拨动寿命测试过程中的人工强度是本领域技术人员需要思考的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种开关拨动寿命的测试装置，可以避免人工参与拨动，且拨动的可靠性和一致性得到显著提升，能够真实反应出被测产品的使用寿命。

为实现上述目的，本发明实施例提供的一种开关拨动寿命的测试装置，包括：

基板；

夹持组件，所述夹持组件用以夹持被测产品；

驱动组件，所述驱动组件包括沿所述基板的延伸方向设置的偏心轴；和

拨动组件，所述拨动组件包括可同步运动的转换板和拨叉，所述转换板设有和所述偏心轴相连的连接孔；

当所述偏心轴做偏心旋转运动时，所述偏心轴相较所述连接孔在第一直线方向上运动，且所述偏心轴带动所述转换板在与所述第一直线方向垂直的第二直线方向上运动，以使所述拨叉拨动被测产品的开关。

可选地，所述夹持组件包括设于所述基板、且间隔设置的主座和辅座，所述主座和所述辅座设有用以放置被测产品的仿型凹槽，所述主座的上方设有主压块，所述辅座的上方设有辅压块，通过所述主压块和所述辅压块将被测产品夹持于所述主座和所述辅座；

和/或，

所述夹持组件包括设于所述基板、且间隔设置的固定座和支撑座，所述固定座和所述支撑座设有用以放置被测产品的仿型槽，位于所述固定座远离所述支撑座的一侧设有挡板，位于所述固定座靠近所述支撑座的一侧设有夹臂，通过所述挡板和所述夹臂将被测产品夹持于所述固定座。

可选地，所述偏心轴包括偏心设置的第一轴和第二轴，且所述第一轴和所述第二轴之间设有轴肩。

可选地，所述驱动组件还包括设于所述基板的轴座，所述轴座设有轴孔，所述轴孔中设有套设所述第一轴的第一轴承，位于所述轴座远离所述第一轴承的一侧设有和所述第一轴相连的轴套，所述第一轴套设有和所述轴孔的端面相抵的端盖，所述第二轴套设有和所述连接孔相连的第二轴承。