[发明专利]一种累积法泄露检测方法和系统

权利要求书

1.一种累积法泄露检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

获取待检测件上的多个待检测位置；

获取所述多个待检测位置的第一泄露值；

根据所述第一泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在静止状态下的第一泄露值变化曲线的至少一个第一参数值；

获取所述多个待检测位置的第二泄露值；

根据所述第二泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在工作状态下的第二泄露值变化曲线的至少一个第二参数值；

基于所述至少一个第一参数值和至少一个第二参数值，确定所述待测物体的至少一个泄露检测性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一参数值包括泄露值参数β₀、时间参数β₁和随机参数ε₁。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二参数值包括泄露值参数β₃、时间参数β₂和随机参数ε₂。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二参数的拟合过程采用求取最小残差平方和的方法。

5.一种累积法泄露检测系统，其特征在于，包括第一获取模块、第二获取模块、第一参数确定模块、第三获取模块、第二参数确定模块和性能确定模块：

第一获取模块，用于获取待检测件上的多个待检测位置；

第二获取模块，用于获取所述多个待检测位置的第一泄露值；

第一参数确定模块，用于根据所述第一泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在静止状态下的第一泄露值变化曲线的至少一个第一参数值；

第三获取模块，用于获取所述多个待检测位置的第二泄露值；

第二参数确定模块，用于根据所述第二泄露值，基于累积法，确定用于表征所述待检测件在工作状态下的第二泄露值变化曲线的至少一个第二参数值；

计算模块，用于基于所述至少一个第一参数值和至少一个第二参数值，确定所述待测物体的至少一个泄露检测性能。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述第一参数值包括泄露值参数β₀、时间参数β₁和随机参数ε₁。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述第二参数值包括泄露值参数β₃、时间参数β₂和随机参数ε₂。

8.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述第二参数的拟合过程采用求取最小残差平方和的方法。

9.一种累积法泄露检测装置，包括处理器，其特征在于，所述处理器用于执行权利要求1～4中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行如权利要求1～4任一项所述的累积法泄露检测方法。