[发明专利]一种用于手性分子探测的微结构

权利要求书

1.一种用于手性分子探测的微结构，其特征在于，包括：基底、磁性材料层和微结构层，所述磁性材料层置于所述基底上，所述微结构层置于所述磁性材料层上，所述微结构层包括周期性排列的微结构单元，所述微结构单元为非手性结构，所述微结构单元的材料为贵金属；应用时，在所述微结构层上涂覆待测手性分子，在外磁场作用下，圆偏振光倾斜照射所述微结构层，通过测量反射光实现手性分子探测。

2.如权利要求1所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述微结构单元为圆盘。

3.如权利要求2所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：还包括支撑部，所述支撑部设置在所述微结构单元的底部、所述磁性材料层上。

4.如权利要求3所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述支撑部为圆盘，所述支撑部的半径小于所述微结构单元的半径。

5.如权利要求4所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述支撑部设置在所述微结构单元的中心位置。

6.如权利要求5所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述支撑部的高度小于40纳米。

7.如权利要求6所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述支撑部的材料为非磁性材料。

8.如权利要求1-7任一项所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述贵金属为金。

9.如权利要求8所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述基底的材料为非磁性材料。

10.如权利要求9所述的用于手性分子探测的微结构，其特征在于：所述磁性材料层的材料为钴、铋铁石榴石。