[发明专利]一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法

说明书

一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法，首先将待测粗指向机构与光电收发装置、平面镜装置进行粗对准；保持待测粗指向机构的俯仰轴系固定，反复调节平面镜调节工装并旋转方位轴，使光斑位置轨迹、画圈范围最小得到方位轴的光斑基准点；调节工装使光电收发装置的同轴度位置与方位轴光斑基准点最接近；再以方位轴系不同角度为基础，分别转动俯仰轴系，寻找光斑位置轨迹、画圈范围最接近光电收发装置同轴度位置的俯仰轴系角度和光斑位置，确定俯仰轴系、方位轴系角度后计算待测粗指向机构的同轴度值，完成正交性测试，解决了传统粗指向机构正交性测试中容易出现测试误差大、测试难度高的问题，能够实现光电系统的集成和轴系校正。

技术领域

本发明涉及一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法，属于光电测量技术领域。

背景技术

粗指向机构是光电跟踪系统实现捕获跟踪的关键，现有的测试粗指向机构正交性的方法多是借助经纬仪、高精度平晶、平行光管、五棱镜等装置，用于在装调机构反射镜过程中把控中间量。文献“一种潜望式捕跟机构反射镜装调方法”CN104142579B，提出了借助经纬仪进行激光终端粗指向机构反射镜装调的技术方案，但是该方法仅适用于捕跟机构装调过程中测试两轴正交性。文献“激光通信粗指向机构轴系精度测量方法”《航天制造技术》2020年第1期，提出了粗指向机构研制过程中获得角秒级轴系倾角回转误差和垂直度测量的工艺方法，介绍了轴系精度测量的原理、配制方法以及数据处理过程，但是该方法仍然只适用于粗指向机构装调过程，无法解决激光终端在集成过程中对光轴装调精度的测量和控制的需求。文献“一种自动调整激光通信望远镜方位轴与发射光轴重合的方法”CN104049354B，为解决经纬仪式激光通信终端粗指向机构引入的激光终端光轴失调问题，提出了一种结合测试平台调整望远镜光轴与发射信号轴的方法，该方法需要借助外部测试平台，调整和测试过程都十分复杂。

在机粗指向构装调结束后进行的激光终端集成装调工序中，针对传统测试方法而言，粗指向机构的两轴正交性就属于不可测量，这对于光电系统的集成和校正轴系误差带来难度。特别是当基准面作为系统的安装接口时，粗指向机构的旋转轴难以引出，无疑对光电系统的集成带来新的挑战。

发明内容

本发明解决的技术问题是：针对目前现有技术中，传统粗指向机构正交性测试中容易出现测试误差大、测试难度高的问题，提出了一种粗指向机构两轴正交性测试系统及方法。

本发明解决上述技术问题是通过如下技术方案予以实现的：

一种粗指向机构两轴正交性测试系统，包括光电收发装置、平面镜装置、潜望式粗指向机构、经纬仪式粗指向机构、测试工装，所述光电收发装置、平面镜装置用于待测粗指向机构的方位轴及俯仰轴的标定，所述潜望式粗指向机构或经纬仪式粗指向机构与光电收发装置、平面镜装置共同安装于测试工装上，所述潜望式粗指向机构或经纬仪式粗指向机构与光电收发装置调整对准，并与平面镜装置法相调整对准后，用于潜望式粗指向机构或经纬仪式粗指向机构的正交性能进行测试。

所述光电收发装置包括发射支路、接收支路、分光镜、调节工装，所述平面镜装置包括平面镜、平面镜调节工装；

所述发射支路发射光束，经分光镜分光后向外发射，所述接收支路接收自准光束，所述调节工装用于对分光镜进行二维角度调节，所述发射支路、接收支路分布于分光镜两侧，呈45°布置；

所述平面镜调节工装用于对平面镜进行二维角度调节。

所述分光镜选用分光棱镜或平行平板分光镜。

所述潜望式粗指向机构包括方位轴系、方位反射镜、俯仰轴系、俯仰反射镜，所述经纬仪式粗指向机构包括方位轴系、俯仰轴系、光学天线或望远镜；

若选用潜望式粗指向机构，光束经由方位反射镜、俯仰反射镜反射后进入平面镜，所述方位轴系、俯仰轴系分别用于驱动方位反射镜、俯仰反射镜转动；