[发明专利]一种微带天线焊点外观缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种微带天线焊点外观缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

获取目标微带天线焊点的外观图像；

将所述外观图像作为预测样本输入预设的神经网络缺陷检测模型，并将该神经网络缺陷检测模型的输出作为该外观图像对应的缺陷原因检测结果；

其中，所述神经网络缺陷检测模型用于表示微带天线焊点外观的缺陷类型与缺陷原因检测结果之间的对应关系，所述神经网络缺陷检测模型通过包括至少一个缺陷类型的历史外观图像训练得到。

2.根据权利要求1所述的微带天线焊点外观缺陷的检测方法，其特征在于，还包括：

根据微带天线焊点外观的历史数据生成训练样本集，所述历史数据包括多个缺陷类型及其对应的已知缺陷原因检测结果。

3.根据权利要求2所述的微带天线焊点外观缺陷的检测方法，其特征在于，所述训练样本集包括原始图像样本集和扩充图像样本集，所述根据微带天线焊点外观的历史数据生成训练样本集，所述历史数据包括多个缺陷类型及其对应的已知缺陷原因检测结果，包括：

获取微带天线原始图像样本集并标注对应的缺陷类型；

对每个原始图像进行旋转和镜像处理，得到扩充图像样本集，并标注与所述原始图像样本集对应的缺陷类型。

4.根据权利要求3所述的微带天线焊点外观缺陷的检测方法，其特征在于，还包括：

对原始图像样本集和扩充图像样本集进行数据清洗和/或属性规约处理。

5.一种微带天线焊点外观缺陷的检测装置，其特征在于，包括：

外观图像获取模块，获取目标微带天线焊点的外观图像；

缺陷原因检测模块，将所述外观图像作为预测样本输入预设的神经网络缺陷检测模型，并将该神经网络缺陷检测模型的输出作为该外观图像对应的缺陷原因检测结果；

其中，所述神经网络缺陷检测模型用于表示微带天线焊点外观的缺陷类型与缺陷原因检测结果之间的对应关系，所述神经网络缺陷检测模型通过包括至少一个缺陷类型的历史外观图像训练得到。

6.根据权利要求5所述的微带天线焊点外观缺陷的检测装置，其特征在于，还包括：

训练样本集生成模块，用于根据微带天线焊点外观的历史数据生成训练样本集，所述历史数据包括多个缺陷类型及其对应的已知缺陷原因检测结果。

7.根据权利要求6所述的微带天线焊点外观缺陷的检测装置，其特征在于，所述训练样本集生成模块包括：

原始图像样本集获取单元，用于获取微带天线原始图像样本集并标注对应的缺陷类型；

扩充图像样本集扩充单元，用于对每个原始图像进行旋转和镜像处理，得到扩充图像样本集，并标注与所述原始图像样本集对应的缺陷类型。

8.根据权利要求7所述的微带天线焊点外观缺陷的检测装置，其特征在于，还包括：

数据处理单元，用于对原始图像样本集和扩充图像样本集进行数据清洗和/或属性规约处理。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至4任一项所述微带天线焊点外观缺陷检测方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4任一项所述微带天线焊点外观缺陷检测方法的步骤。