[发明专利]一种图像过暗或过曝检测方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种图像过暗或过曝检测方法及装置，该方法包括：先获取待检测图像；该待检测图像为灰度图像；之后计算待检测图像的特征指标；该特征指标包括图像亮度均值、图像亮度标准差以及图像中目标像素点的总亮度；该目标像素点的亮度大于预设像素点亮度阈值；再基于特征指标与预设特征指标阈值的大小关系，确定待检测图像的图像状态；图像状态包括图像过暗或图像过曝；最后输出该图像状态对应的第一状态标志。本发明实施例中不需要辅助的探测器，仅需获取待检测图像即可判断图像是否过暗或过曝，场景适应性强，所需硬件的复杂度和成本较低。同时，通过多个特征指标综合判断图像状态，一定程度上可以提高检测准确率。

技术领域

本发明涉及图像处理领域，特别是涉及一种图像过暗或过曝检测方法及装置。

背景技术

在摄影领域，曝光是指摄影的过程中允许进入镜头照在感光媒体（胶片相机的底片或者数码照相机的图像传感器）上的光量。由于快门过慢、背景光太强等原因，可能造成画面局部亮度过高，照片泛白且丢失细节，此时为图像过曝；而环境光太暗等原因会造成画面过暗，影响照片的美观，此时为图像过暗。

目前，在图像拍摄、视频剪辑等多种应用场景中，往往需要对图像画面的过暗或者过曝进行检测。现有技术在检测图像是否过暗或者过曝时，是根据镜头的进光量判断，在进行判断时往往需要利用特殊的探测器来辅助判断进光量，这会增加拍摄设备的复杂度和成本。

发明内容

本发明实施例提供一种图像过暗或过曝检测方法及装置，以解决现有技术中复杂度和成本较大的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例是这样实现的：

第一方面，本发明实施例公开了一种图像过暗或过曝检测方法，该方法包括：

获取待检测图像；所述待检测图像为灰度图像；

计算所述待检测图像的特征指标；所述特征指标包括图像亮度均值、图像亮度标准差以及图像中目标像素点的总亮度；其中，所述目标像素点的亮度大于预设像素点亮度阈值；

基于所述特征指标与预设特征指标阈值的大小关系，确定所述待检测图像的图像状态；所述图像状态包括图像过暗或图像过曝；

输出所述图像状态对应的第一状态标志。

第二方面，本发明实施例公开了一种图像过暗或过曝检测装置，该装置包括：

获取模块，用于获取待检测图像；所述待检测图像为灰度图像；

计算模块，用于计算所述待检测图像的特征指标；所述特征指标包括图像亮度均值、图像亮度标准差以及图像中目标像素点的总亮度；其中，所述目标像素点的亮度大于预设像素点亮度阈值；

确定模块，用于基于所述特征指标与预设特征指标阈值的大小关系，确定所述待检测图像的图像状态；所述图像状态包括图像过暗或图像过曝；

第一输出模块，用于输出所述图像状态对应的第一状态标志。

第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现第一方面所述的图像过暗或过曝检测方法的步骤。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的图像过暗或过曝检测方法的步骤。