[发明专利]一种低矿化度成因低阻油层的录井识别方法

权利要求书

1.一种低矿化度成因低阻油层的录井识别方法，其中，所述方法包括如下步骤：

(1)获得荧光录井数据资料并对所述资料进行量化处理得到荧光录井参数的量化赋值；

(2)利用步骤(1)得到的量化赋值计算储层段油气显示指数F；

(3)获得储层段的气测录井数据，并计算全烃异常系数K_g；

(4)获得所述储层段的钻时录井数据，并计算所述储层段的钻时异常系数K_d；

(5)计算所述储层段油气异常指数Z；

(6)获得已试油储层段数据并建立Z-F交会图版；

(7)基于步骤(6)建立的Z-F交会图版，确定储层流体性质解释标准；

(8)识别低矿化度成因低阻油层，解释目的层流体性质。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(1)包括依据如下赋值表对所述资料进行量化处理得到赋值：

3.根据权利要求1～2任意一项所述的方法，其中，步骤(2)包括利用如下公式(1)及公式(2)计算储层段油气显示指数F：首先计算单项荧光录井参数的量化赋值的平均值，其计算公式为：

a_ij为第i项荧光录井参数的第j个样品点的量化赋值；

a_i为第i项荧光录井参数量化赋值后的平均值；

n表示荧光录井参数总数量；

然后，计算对应储层段的油气显示指数F，其计算公式为：

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述荧光录井参数包括油味特征、含油岩屑比例、含油岩屑分布、荧光岩屑比例、荧光强度、荧光扩散特征和残余油分布特征。

5.根据权利要求1～4任意一项所述的方法，其中，步骤(3)包括利用储层段全烃参数的最高值和邻近上部非储层段全烃参数基值计算获得全烃异常系数。

6.根据权利要求1～5任意一项所述的方法，其中，步骤(3)包括利用如下公式(3)计算全烃异常系数K_g：

R_g为储层段全烃参数的最高值，％；

C_g为邻近上部非储层段全烃参数基值，％。

7.根据权利要求1～6任意一项所述的方法，其中，步骤(4)包括利用邻近上部非储层段钻时参数基值和储层段钻时平均值计算钻时异常系数。

8.根据权利要求1～7任意一项所述的方法，其中，步骤(4)包括利用如下公式(4)计算钻时异常系数K_d：

C_d为邻近上部非储层段钻时参数基值，min/m；

R_d为储层段钻时平均值，min/m。

9.根据权利要求1～8任意一项所述的方法，其中，步骤(5)包括利用全烃异常系数和钻时异常系数计算油气异常指数。

10.根据权利要求1～9任意一项所述的方法，其中，步骤(5)包括利用如下公式(5)计算油气异常指数Z：

Z＝K_g×K_d (5)

K_g为全烃异常系数；

K_d为钻时异常系数。

11.根据权利要求1～10任意一项所述的方法，其中，步骤(6)包括分别计算试油结论验证的油层、油水同层、水层和干层样品点的各自的油气显示指数F和油气异常指数Z，并利用这些数据绘制Z-F散点交会图，依据这些数据点的分布区间建立Z-F交会图版。

12.根据权利要求1～11任意一项所述的方法，其中，步骤(7)包括依据下表确定储层流体性质解释标准：

13.根据权利要求1～12任意一项所述的方法，其中，步骤(8)包括利用步骤(2)得到的油气显示指数、步骤(5)得到的油气异常指数、步骤(6)得到的Z-F交会图版以及步骤(7)确立的储层流体性质解释标准来识别低矿化度成因油层、以及解释目的层流体性质。