[发明专利]SQL数据库的测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明涉及数据分析领域，公开了一种SQL数据库的测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：连接待测试的目标SQL数据库和标准SQL数据库；同时发送测试指令至所述目标SQL数据库和所述标准SQL数据库中，获取所述目标SQL数据库生成的第一测试集，并获取所述标准SQL数据库的第二测试集；根据预置匹配算法，分析所述第一测试集和所述第二测试集的匹配关系，得到所述目标SQL数据库的测试结果。

技术领域

本发明涉及数据分析领域，尤其涉及一种SQL数据库的测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

数据库是各类软件实现的基础，因此数据库的功能设计需要保证其可靠性。为了保证可靠性，在数据库的功能设计完成后，需要有各种测试与验证，对数据库的功能进行校验。

在SQL数据库的设计过程中，因为SQL是一种调用数据库的灵活语言，所以当出现新的设计结构时，需要有大量的功能测试，确保每一种设计都能准确实现其功能。大量的测试数据导致每次进行SQL数据库设计都要花费很长的时间，且在使用过程中还需要重复检验，使得SQL的设计变得很繁琐，需要一种能高效的精确的验证SQL数据库的方法。

发明内容

本发明的主要目的在于解决SQL数据库的测试效率低和准确率低的技术问题。

本发明第一方面提供了一种SQL数据库的测试方法，所述SQL数据库的测试方法包括：

连接待测试的目标SQL数据库和标准SQL数据库；

同时发送测试指令至所述目标SQL数据库和所述标准SQL数据库中，获取所述目标SQL数据库生成的第一测试集，并获取所述标准SQL数据库的第二测试集；

根据预置匹配算法，分析所述第一测试集和所述第二测试集的匹配关系，得到所述目标SQL数据库的测试结果。

可选的，在本发明第一方面的第一种实现方式中，所述根据预置匹配算法，分析所述第一测试集和所述第二测试集的匹配关系，得到所述目标SQL数据库的测试结果包括：

判断所述第一测试集中的数据是否存在无效等价类数据；

若不存在，则将所述第一测试集与所述第二测试集进行数据比对，得到比对结果；

若存在，则判断是否设置对所述第一测试集与所述第二测试集进行比对处理；

若设置，则根据数据的输出顺序，将所述第一测试集和所述第二测试集进行比对处理，得到比对结果；

若未设置，则获取所述标准SQL数据库中的预置预测结果集，以及根据数据的输出顺序，将所述第一测试集和所述预测结果集进行比对处理，得到比对结果；

根据得到的比对结果，生成所述目标SQL数据库的测试结果。

可选的，在本发明第一方面的第二种实现方式中，所述将所述第一测试集与所述第二测试集进行数据比对，得到比对结果包括：

判断所述测试指令是否均存在排序指令；

若均存在排序指令，则将所述第一测试集与所述第二测试集进行逐条比对，生成比对结果；

若不是均存在，则根据预置循环比对算法，将所述第一测试集和所述第二测试集进行比对处理，得到比对结果。

可选的，在本发明第一方面的第三种实现方式中，所述根据预置循环比对算法，将所述第一测试集和所述第二测试集进行比对处理，得到比对结果包括：

计算所述第一测试集中每个数据对应的循环冗余校验值，以及将所有所述循环冗余校验值组合，生成循环冗余校验集；

解析获得所述循环冗余校验集的总数、最小值、最大值，以及获取预置第一阈值，判断所述总数是否大于所述第一阈值；