[发明专利]图像像控点精准定位方法

说明书

本发明公开了一种图像像控点精准定位方法，包含以下步骤：确定第一图像的第一像控点；通过匹配算法对第一图像和第二图像进行特征点匹配得到若干特征点对，每一特征点对包含位于第一图像的第一特征点和位于第二图像的与第一特征点对应的第二特征点；对若干特征点对进行筛选；对筛选后的特征点对进行线性拟合得到拟合公式；将第一像控点的坐标代入拟合公式得到位于第二图像的第二像控点的坐标。本发明的有益之处在于所提供的图像像控点精准定位方法，在通过匹配算法得到若干特征点对后，再对这些特征点对进行筛选，将不符合条件的特征点对去除，以提高线性拟合的精度。

技术领域

本发明涉及一种图像像控点精准定位方法。

背景技术

图像的像控点定位是数字测量领域的核心问题，其重点就是在两幅图像中识别特征点，其过程实际是寻找两幅照片间的映射过程，即要将两幅不同视点的同一景物或物体的图像中对应于空间同一位置的点联系起来。

图像的像控点定位匹配质量直接影响后续处理的优劣，传统的图像像控点定位人工成本较高，难以同时兼顾匹配精度与算法效率，因此亟需一种多图像的特征点精准定位方法。

发明内容

本发明提供了一种图像像控点精准定位方法，采用如下的技术方案：

一种图像像控点精准定位方法，包含以下步骤：

确定第一图像的第一像控点；

通过匹配算法对第一图像和第二图像进行特征点匹配得到若干特征点对，每一特征点对包含位于第一图像的第一特征点和位于第二图像的与第一特征点对应的第二特征点；

对若干特征点对进行筛选；

对筛选后的特征点对进行线性拟合得到拟合公式；

将第一像控点的坐标代入拟合公式得到位于第二图像的第二像控点的坐标。

进一步地，通过匹配算法对第一图像和第二图像进行特征点匹配得到若干特征点对的具体方法为：

通过加速稳健特征算法对第一图像和第二图像进行特征点匹配得到若干特征点对。

进一步地，对若干特征点对进行筛选的具体方法为：

通过暗点检测算法对若干特征点对进行计算以筛除特征点对中的暗点对。

进一步地，通过暗点检测算法对若干特征点对进行计算以筛除特征点对中的暗点对的具体方法为：

对于若干特征点对中的每一组，分别以特征点对中的第一特征点和第二特征点为中心向外扩展形成大小相同的方形的第一像素区域和第二像素区域；

将第一像素区域和第二像素区域中的R、G、B值均大于120的像素点视为暗像素点；

将第一像素区域和第二像素区域中的一个的暗像素点个数占比大于60％的特征点对标记为暗点对，并将暗点对去除。

进一步地，第一像素区域和第二像素区域为5*5的像素区域。

进一步地，对筛选后的特征点对进行线性拟合得到拟合公式的具体方法为：

对筛选后的特征点对进行第一次线性拟合得到第一拟合公式；

将筛选后的特征点中相对第一拟合公式的误差超过阈值的特征点对去除；

对去除误差后的特征点对进行第二次线性拟合得到第二拟合公式；

将第一像控点的坐标代入拟合公式得到位于第二图像的第二像控点的坐标的具体方法为：

将第一像控点的坐标代入第二拟合公式得到位于第二图像的第二像控点的坐标。