[发明专利]待测设备的测试电路以及测试方法

权利要求书

1.一种待测设备的测试方法，其特征在于，应用于测试电路，所述测试电路包括处理器和与所述处理器连接的电阻模拟电路，所述电阻模拟电路与待测设备连接，所述电阻模拟电路包括数模转换电路、跟随器和第一电阻，所述待测设备包括第二电阻和供电电源，所述第二电阻的第一端连接所述供电电源，所述第二电阻的第二端连接所述待测设备的测试端口，所述第一电阻的一端通过所述跟随器与所述数模转换电路连接，所述第一电阻的另一端与所述第二电阻的第二端连接，所述方法包括：

通过所述处理器获取阻值调节指令，并将所述阻值调节指令发送至所述电阻模拟电路；

基于所述阻值调节指令调节所述电阻模拟电路的等效阻值，包括：基于所述阻值调节指令确定目标电压；通过公式R^’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo)得到所述目标阻值；其中，Vo为所述目标电压，VCC为所述供电电源的电压，RS为所述第一电阻的阻值，RP为所述第二电阻的阻值，R^’为所述目标阻值；将所述电阻模拟电路的等效阻值调节至所述目标阻值；

通过调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测设备包括控制器，所述控制器包括多个端口，所述电阻模拟电路包括多个通道，所述基于所述阻值调节指令调节所述电阻模拟电路的等效阻值，包括：

从所述多个端口中获取所述测试端口，所述测试端口的数量为多个；

从所述多个通道中获取与所述测试端口对应的目标通道，其中，一个所述目标通道对应一个所述测试端口；

基于所述阻值调节指令控制所述电阻模拟电路在所述目标通道产生所述目标电压，以调节所述电阻模拟电路的等效阻值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试，包括：

获取所述测试端口的端口电压；

当所述端口电压处于预设电压范围内时，确定所述测试端口的测试结果为正常。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述当所述端口电压处于预设电压范围内时，确定所述测试端口的测试结果为正常之前，还包括：

通过公式VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/(RS+RP)计算出参考端口电压，其中，VI为所述参考端口电压；

当所述端口电压与所述参考端口电压匹配时，确定所述端口电压处于预设电压范围内。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试，包括：

获取所述测试端口的端口电压；

基于所述端口电压得到所述电阻模拟电路的实际等效阻值；

当所述实际等效阻值与所述目标阻值匹配时，确定所述测试端口的测试结果为正常。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述端口电压得到所述电阻模拟电路的实际等效电阻，包括：

通过公式Va＝Vb+(VCC-Vb)*RS/(RS+RP)得到实际电压，其中，Va为所述端口电压，Vb为实际电压；

通过公式Ra＝(VCC*RS*RP+RP²*Vb)/(VCC*RP-RP*Vb)得到实际等效阻值，其中，Ra为实际等效阻值。