[发明专利]基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法

权利要求书

1.基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)预处理：将PPTC极板阳极样品采用无水乙醇进行超声清洗，除去表面的杂质和油脂，然后在室温中吹干即得待测的PPTC材料的极板阳极；

(2)腐蚀前称重：称量步骤(1)得到的所述待测PPTC材料的极板阳极的质量(g)，记为m₀；

(3)腐蚀极化：将步骤(1)中得到的待测的极板阳极置于预设浓度的腐蚀介质中，在预设温度下，分别在预设的若干组电流下使其发生电化学腐蚀极化达到第一预设时长；

(4)将步骤(3)中腐蚀极化后的极板阳极置于预设浓度的第一溶液中加热沸腾第二预设时长，溶解掉腐蚀层，放入烘箱烘干达到第三预设时长；

(5)腐蚀后称重：称量腐蚀后的极板阳极的质量(g)，记为m₁；

(6)评估耐腐蚀性能：计算出单位面积、单位时间内的质量的变化值，从而评估极板阳极耐腐蚀性能，其计算公式:

其中:V为腐蚀速率(g/h·m^-2)；m₀为阳极极化前的质量(g)；m₁为阳极极化后的质量(g)；S为电极的工作表面积(m²)；t为阳极极化时间(h)。

2.根据权利要求1所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，步骤(3)中所述腐蚀介质为硫酸。

3.根据权利要求2所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，所述硫酸为1.23g/cm³的H₂SO₄。

4.根据权利要求1所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，步骤(3)中预设温度为30～60℃，所述预设的若干组电流范围为j_N＝500～2000A/m²，其中，N为自然数。

5.根据权利要求1所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，步骤(4)中所述第一溶液为85～95g/L的葡萄糖-氢氧化钠溶液。

6.根据权利要求5所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，所述葡萄糖-氢氧化钠溶液的浓度比为1：1。

7.根据权利要求1所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，步骤(1)中所述PPTC极板阳极样品厚度为1mm～10mm，极板阳极尺寸为39mm×69mm。

8.根据权利要求1所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，步骤(4)中所述第二预设时长为20～60min，所述第三预设时长为1～5h。

9.根据权利要求1所述的基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法，其特征在于，步骤(3)中第一预设时长为12～36h。

10.基于高分子半导体材料PPTC的极板阳极耐腐蚀性的测试方法的应用，其特征在于，采用权利要求1～9任一所述方法分析基于高分子半导体材料PPTC的阳极极板与传统Pb-Ca-Sn合金极板阳极材料的腐蚀性能。