[发明专利]液晶显示面板的光学量测方法及量测系统

说明书

一种液晶显示面板的光学量测方法及量测系统，包括：采用偏光片单体光学量测设备分别量测参考偏光片的平行穿透频谱MD₀值以及垂直穿透频谱TD₀值；通过所述MD₀值以及所述TD₀值分别计算出所述参考偏光片的单体穿透率S值以及平行穿透率T_POL值；通过液晶显示面板穿透率量测设备量测出偏贴所述参考偏光片的液晶显示面板的实际穿透率T_总值并计算出除去所述参考偏光片外的膜层材料的穿透率T_w/oPOL值；采用所述偏光片单体光学量测设备分别量测出目标偏光片的平行穿透频谱MD₁值以及垂直穿透频谱TD₁值；计算出所述目标偏光片的单体穿透率S₁值以及平行穿透率T_POL1值；最终通过上述已知数值计算偏贴所述目标偏光片的液晶显示面板的实际穿透率T_new总值。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板的光学量测方法及量测系统。

背景技术

目前常用的液晶面板显示模式主要包括VA(Vertical alignment，垂直配向)模式。以VA模式为例：VA显示是一种垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片吸收轴垂直偏贴。VA液晶显示的原理基于液晶的透光率随其所施电压大小而变化的特性。当光通过下基板(阵列基板)的偏振片后，变成线性偏振光，偏振方向与下偏振片穿透方向一致。在不加电压时，光线经过液晶不会发生偏振方向改变，经过上基板(彩膜基板)偏光，光线被吸收为黑态。当加上电压以后，液晶在电场作用下沿配向方向发生偏转，当光通过液晶层时，由于受液晶折射，线性偏振光被分解为两束光，又由于这两束光传播速度不同，因而当两束光合成后，必然使偏振光的偏振方向发生变化，当入射光达到上基板偏振片时，与下偏振片的穿透方向平行的光线可以通过，为亮态。

由上可知，在整个显示过程中，偏光片起到至关重要的作用，偏光片会影响液晶面板的穿透率、亮度、对比度、色度等重要参数，故需要对偏光片的各项光学参数，比如单体穿透率、平行穿透率、垂直穿透率、穿透频谱、色度、偏亮度等各种参数进行监控和量测。目前，针对液晶显示面板在导入不同偏光片时采用常规的验证方式评估基本光学参数至少需要两周以上，耗时耗力。

因此，急需提供一种液晶显示面板的光学量测方法及量测系统，以解决上述技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种液晶显示面板的光学量测方法及量测系统，能够极大地节约液晶显示面板中偏光片的验证时间和减少验证资源，提高偏光片导入产品效率，以解决现有的液晶显示面板的光学量测方法及量测系统，在目前偏光片导入液晶产品验证过程中存在耗时耗力的现象。

本申请实施例提供一种液晶显示面板的光学量测方法，所述方法包括：

S10，提供一参考偏光片，采用偏光片单体光学量测设备分别量测出所述参考偏光片的平行穿透频谱MD₀值以及垂直穿透频谱TD₀值；

S20，通过公式S＝(MD+TD)/2、公式T_POL＝(MD²+TD²)/2、所述MD₀值以及所述TD₀值分别计算出所述参考偏光片的单体穿透率S值以及平行穿透率T_POL值；

S30，将两个所述参考偏光片偏贴在一阵列基板的相对两侧，形成第一液晶显示面板，通过液晶显示面板穿透率量测设备量测出所述第一液晶显示面板的实际穿透率T_总值；

S40，通过公式T_w/oPOL＝T_总/T_POL计算出所述第一液晶显示面板中除去所述参考偏光片外的膜层材料的穿透率T_w/oPOL值；