[发明专利]液晶显示面板的光学量测方法及量测系统有效
| 申请号： | 202010625736.3 | 申请日： | 2020-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN111812869B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 海博 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 高杨丽 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 光学 方法 系统 | ||
1.一种液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述方法包括：
S10，提供一参考偏光片，采用偏光片单体光学量测设备分别量测出所述参考偏光片的平行穿透频谱MD0值以及垂直穿透频谱TD0值，其中，所述平行穿透频谱为入射线偏光经过与所述参考偏光片透过轴方向的透过频谱；所述垂直穿透频谱为入射线偏光经过与所述参考偏光片吸收轴方向的透过频谱；
S20，通过公式S=(MD+TD)/2、公式TPOL=(MD2+TD2)/2、所述MD0值以及所述TD0值分别计算出所述参考偏光片的单体穿透率S0值以及平行穿透率TPOL0值，其中，单体穿透率S0为自然光经过单个所述参考偏光片的透过频谱；平行穿透率TPOL0为自然光经过两个相互平行设置的所述参考偏光片的透过频谱；其中，所述参考偏光片的单体穿透率S0=0.5MD0，所述参考偏光片的平行穿透率TPOL0=MD02/2=2S02；
S30，将两个所述参考偏光片偏贴在一阵列基板的相对两侧，形成第一液晶显示面板，通过液晶显示面板穿透率量测设备量测出所述第一液晶显示面板的实际穿透率T总值；
S40，通过公式Tw/oPOL=T总/TPOL计算出所述第一液晶显示面板中除去所述参考偏光片外的膜层材料的穿透率Tw/oPOL值，Tw/oPOL=T总/2S0-2；
S50，提供另一目标偏光片，将两个所述目标偏光片偏贴在所述阵列基板的相对两侧，形成第二液晶显示面板，采用偏光片单体光学量测设备量测出所述目标偏光片的平行穿透频谱MD1，以及通过公式Tnew总=TPOL1*Tw/oPOL=T总*S12*S0-2计算出所述第二液晶显示面板的实际穿透率Tnew总值，其中，平行穿透率TPOL1为自然光经过两个相互平行设置的所述目标偏光片的透过频谱，S1为所述目标偏光片的单体穿透率S值；所述目标偏光片的单体穿透率S1=0.5MD1，所述目标偏光片的平行穿透率TPOL1=MD12/2=2S12。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述S10中，所述偏光片单体光学量测设备为V7100单体光学量测机台。
3.根据权利要求1所述的液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，通过所述Tnew总值可以计算出所述第二液晶显示面板的基本光学参数，所述基本光学参数包括色度x轴坐标、色度y轴坐标、亮度以及穿透率。
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