[发明专利]倍增寄存器结构以及包括该倍增寄存器结构的EMCCD有效
| 申请号: | 202010567950.8 | 申请日: | 2020-06-19 |
| 公开(公告)号: | CN111787247B | 公开(公告)日: | 2022-09-16 |
| 发明(设计)人: | 白雪平;杨洪;郑渝;曲鹏程 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
| 主分类号: | H04N5/372 | 分类号: | H04N5/372;H01L31/107;H01L31/0352;H01L27/148 |
| 代理公司: | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人: | 王海军 |
| 地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 倍增 寄存器 结构 以及 包括 emccd | ||
1.一种提高EMCCD响应线性度的倍增寄存器结构,包括衬底和位于衬底之上的埋沟;在埋沟上覆盖有栅介质,在栅介质上形成有第一电极Ф1、第二电极Фdc、第三电极Фem和第四电极Ф3;这四个电极依次对应为第一转移相、直流相、倍增相以及第二转移相;其特征在于,将埋沟按照各电极划分出对应的第一埋沟、第二埋沟、第三埋沟以及第四埋沟;将第三电极Фem的倍增相向下对应的第三埋沟划分为倍增埋沟和电荷埋沟,所述倍增埋沟用于电荷倍增;所述电荷埋沟用于存储倍增后的电荷,且所述电荷埋沟的深度大于所述倍增埋沟的深度;所述倍增埋沟的浓度与其他埋沟的浓度一致,所述电荷埋沟的浓度略高于倍增埋沟的浓度,其中,其他埋沟包括第一埋沟、第二埋沟以及第四埋沟,电荷埋沟的浓度比倍增埋沟浓度高1/3~1倍。
2.根据权利要求1所述的一种提高EMCCD响应线性度的倍增寄存器结构,其特征在于,所述衬底为P型衬底,所述埋沟为N型埋沟或者所述衬底为N型衬底,所述埋沟为P型埋沟。
3.根据权利要求1所述的一种提高EMCCD响应线性度的倍增寄存器结构,其特征在于,在所述电荷埋沟处加注磷用于提高电荷埋沟浓度。
4.一种提高响应线性度的EMCCD,包括存储区、光敏区、水平寄存器和读出放大器,其特征在于,在所述水平寄存器和所述读出放大器之间安装有多个如权利要求1~3任一所述的倍增寄存器结构。
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