[发明专利]数据校验方法和装置、电子设备、分布式系统及存储介质

说明书

本申请提供的数据校验方法和装置、电子设备、分布式系统及存储介质，涉及分布式存储技术领域。在本申请中，首先，从主服务器获得第一待校验数据对应的第一校验和信息，其中，该第一待校验数据存储于主服务器。其次，获得第二待校验数据对应的第二校验和信息，其中，该第二待校验数据基于对第一待校验数据进行备份处理形成，存储于备份服务器。然后，基于第一校验和信息、第二校验和信息，对第一待校验数据和第二待校验数据进行校验处理。基于上述方法，可以改善现有的数据校验技术存在成本较高的问题。

技术领域

本申请涉及分布式存储技术领域，具体而言，涉及一种数据校验方法和装置、电子设备、分布式系统及存储介质。

背景技术

在大数据时代，面对海量的数据，分布式存储技术的应用范围约来越广。如此，使得对分布式存储技术的要求也越来越高，例如，为了保证主机与备机之间的数据一致性，需要对数据进行有效地校验。

但是，经发明人研究发现，现有的数据校验技术中，存在着校验成本较高的问题，尤其是，在对海量数据进行校验时，尤其严重。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种数据校验方法和装置、电子设备、分布式系统及存储介质，以改善现有的数据校验技术存在成本较高的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用如下技术方案：

一种数据校验方法，应用于分布式系统中的备份服务器，该分布式系统还包括与该备份服务器连接的主服务器，所述方法包括：

从所述主服务器获得第一待校验数据对应的第一校验和信息，其中，该第一待校验数据存储于所述主服务器；

获得第二待校验数据对应的第二校验和信息，其中，该第二待校验数据基于对所述第一待校验数据进行备份处理形成，存储于所述备份服务器；

基于所述第一校验和信息、所述第二校验和信息，对所述第一待校验数据和所述第二待校验数据进行校验处理。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述数据校验方法中，所述基于所述第一校验和信息、所述第二校验和信息，对所述第一待校验数据和所述第二待校验数据进行校验处理的步骤，包括：

判断所述第一校验和信息与所述第二校验和信息是否相同；

若所述第一校验和信息与所述第二校验和信息相同，则判定所述第一待校验数据与所述第二待校验数据相同；

若所述第二校验和信息与所述第二校验和信息不同，则对所述第一待校验数据和所述第二待校验数据再次进行校验处理。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述数据校验方法中，所述对所述第一待校验数据和所述第二待校验数据再次进行校验处理的步骤，包括：

获得所述第一待校验数据对应的新的第一校验和信息、所述第二待校验数据对应的新的第二校验和信息；

基于所述新的第一校验和信息、所述新的第二校验和信息，对所述第一待校验数据和所述第二待校验数据再次进行校验处理。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述数据校验方法中，所述获得所述第一待校验数据对应的新的第一校验和信息的步骤，包括：

向所述主服务器发送通知信息，其中，该主服务器用于基于该通知信息在对所述第一待校验数据进行锁定之后，确定该第一待校验数据对应的新的第一校验和信息；

从所述主服务器获得所述新的第一校验和信息。

本申请实施例还提供了另一种数据校验方法，应用于分布式系统中的主服务器，该分布式系统还包括与该主服务器连接的备份服务器，所述方法包括：

对第一待校验数据进行处理，得到第一校验和信息，其中，该第一待校验数据存储于所述主服务器；