[发明专利]射频信号干扰测试系统及方法

说明书

本申请提供一种射频信号干扰测试系统及方法，涉及通信技术领域。该系统包括：屏蔽箱、待测设备和控制终端；其中，待测设备包括：射频通讯模块、处理器和至少一个待测电路，处理器与每个待测电路连接；射频通讯模块与控制终端通信连接，用以接收控制终端发送的控制指令；处理还与控制终端通信连接，控制终端获取处理器对待测电路的输出信号进行转换处理后生成的机器码，根据机器码判定待测电路是否耐受射频信号干扰。在该系统中，通过控制终端获取处理器对待测电路的输出信号进行转换处理后生成的机器码，来判定待测电路是否耐受射频信号的干扰，使得可以简单快速的定位到待测电路中设计薄弱的电路模块，提高了射频信号干扰测试的效率。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，具体而言，涉及一种射频信号干扰测试系统及方法。

背景技术

随着科技的发展，通信、电力、大量的设备运行和交通运输带了人为的电磁干扰，使得电磁干扰问题越来越突出，已成为许多设备、系统能否发挥正常作用的障碍。在信息时代，对信息设备构成严重威胁的射频信号干扰备受人们的重视。

目前，现有评估射频信号对待测设备内部其它电路干扰的测试方法，通常是在完全屏蔽的暗室中进行测试，或者是在空旷环境下通过频谱分析仪来测量射频信号的干扰情况。

但是，采用现有技术，存在暗室成本高，频谱分析仪也只能大致锁定干扰源，导致评估射频信号对待测设备内部电路干扰的效率低，成本高。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种射频信号干扰测试系统及方法，以便提高测试射频信号对待测设备内部电路干扰的效率。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种射频信号干扰测试系统，所述射频信号干扰测试系统包括：屏蔽箱、设置于所述屏蔽箱内待测设备，以及设置于所述屏蔽箱外的控制终端；其中，所述待测设备包括：射频通讯模块、处理器和至少一个待测电路，所述处理器与每个待测电路连接；

所述射频通讯模块与所述控制终端通信连接，用以接收所述控制终端发送的控制指令；所述处理还与所述控制终端通信连接，以使得所述控制终端获取所述处理器对所述待测电路的输出信号进行转换处理后的生成的机器码，并根据所述机器码判定所述待测电路是否耐受射频信号的干扰。

可选地，所述屏蔽箱包括：屏蔽箱体、设置于屏蔽箱体上方的合页门、设置于侧边的通孔；其中，所述屏蔽箱体内用于放置所述待测设备；

所述屏蔽箱体上方的合页门用于取放所述待测设备；所述通孔用于将所述待测设备内多根引线经通孔引出所述屏蔽箱外，所述通孔在引线引出后的空隙采用屏蔽材料进行屏蔽处理。

可选地，所述多根引线中每根引线上靠近所述通孔的位置采用绝缘材料进行缠绕。

可选地，所述射频信号干扰测试系统还包括：示波器；

所述每个待测电路的输出端还与所述示波器电连接，以使所述示波器显示所述每个待测电路输出信号的波形变化。

可选地，所述至少一个待测电路包括：模拟输入电压电路；其中，所述射频信号干扰测试系统还包括第一电源和第二电源；所述待测设备还包括：电源电路；

所述第一电源与所述电源电路电连接，所述电源电路分别与所述射频通讯模块、所述处理器和所述至少一个待测电路的电源端电连接，用于为所述射频通讯模块、所述处理器和所述至少一个待测电路供电；

所述第二电源与所述模拟输入电压电路的输入端电连接，用于向所述模拟输入电压电路提供输入电压信号；

所述控制终端用于获取所述处理器对所述模拟输入电压电路的输出信号进行转换处理后的生成的机器码，判定所述模拟输入电压电路是否耐受射频信号干扰。