[发明专利]基于半导体载流子调制透射激光的太赫兹波探测方法有效
| 申请号： | 202010521483.5 | 申请日： | 2020-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN111609929B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 赵佳宇;董章华;彭滟;朱亦鸣;汤烈志;惠雨晨 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G02F1/015 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 徐颖 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 半导体 载流子 调制 透射 激光 赫兹 探测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于半导体载流子调制透射激光的太赫兹波探测方法，其特征在于，激光器发射激光照射到半导体上，半导体发生内光电效应产生载流子，太赫兹波源发射出太赫兹波，经过设定频率移动的延迟系统后再透过硅片，最终也照射到半导体上，在太赫兹波电场的作用下，半导体中的载流子发生定向移动并复合，浓度发生变化，激光促使半导体产生载流子，太赫兹波对载流子浓度进行调制，载流子浓度变化又对透射激光进行调制，半导体输出透射激光打到硅片上，被反射输入到光电二极管被探测，再将探测信号接入示波器处理，得到太赫兹波的强度信息。
2.根据权利要求1所述基于半导体载流子调制透射激光的太赫兹波探测方法，其特征在于，所述示波器以其低通滤波功能对接收到的激光信号进行处理，所得波形反映太赫兹波的强度信息。
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