[发明专利]基于超声相控阵列的GIS盆式绝缘子密度分布成像方法在审
| 申请号: | 202010513354.1 | 申请日: | 2020-06-08 |
| 公开(公告)号: | CN111812462A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
| 发明(设计)人: | 李进;赵仁勇;杜伯学;陈允;梁虎成;姚航 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程小艳 |
| 地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 超声 相控阵 gis 绝缘子 密度 分布 成像 方法 | ||
1.基于超声相控阵列的GIS盆式绝缘子密度分布成像方法,其特征在于:步骤如下:
1)设置相控阵仪器的各种参数,定义扫描聚焦法则,调整增益,并将扫描类型设置为A扫描和S扫描;
2)将盆式绝缘子固定于桌面,表面清理干净并涂抹耦合剂-甘油,以保证探头与绝缘子密切结合而不存在空气,减少超声波在空气中的损耗;
3)把超声探头放置在盆式绝缘子表面进行检测,输入起点数值与范围显示参数,以使传回来的扫描图像中出现来自不同密度处的反射信号;
4)根据扫描结果中不同位置所成扫描图像颜色深浅不同可以判断出密度差异。
2.根据权利要求1所述的基于超声相控阵列的GIS盆式绝缘子密度分布成像方法,其特征在于:使用的盆式绝缘子与实际特高压GIS盆式绝缘子的制作材料和制作工艺相同。
3.根据权利要求1所述的基于超声相控阵列的GIS盆式绝缘子密度分布成像方法,其特征在于:通过超声反射S扫描方法实现盆式绝缘子密度分布检测,且使用的仪器为CTS-PA22B相控阵超声仪,中心频率为5MHz的16阵元相控阵探头,阵元间距为0.6mm,阵元长度为8mm。
4.根据权利要求1所述的基于超声相控阵列的GIS盆式绝缘子密度分布成像方法,其特征在于:所使用的耦合剂为甘油。
5.根据权利要求1所述的基于超声相控阵列的GIS盆式绝缘子密度分布成像方法,其特征在于:若不同位置图像颜色分布较均匀,则说明密度分布均匀,绝缘子整体性能好;反之,若不同位置图像颜色差距较大,则说明密度分布不均匀,整体性能较差。
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