[发明专利]一种无损检测导向装置以及扫查方法在审
| 申请号: | 202010487409.6 | 申请日: | 2020-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN111474240A | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
| 发明(设计)人: | 翟烜;张香然;曹永胜;蔚青松;李苗苗;刘敏;马瑛;高秀明 | 申请(专利权)人: | 中车唐山机车车辆有限公司 |
| 主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/265 |
| 代理公司: | 北京一品慧诚知识产权代理有限公司 11762 | 代理人: | 邓树山 |
| 地址: | 063035 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 无损 检测 导向 装置 以及 方法 | ||
本发明涉及检测辅助技术领域,具体涉及一种无损检测导向装置以及扫查方法,所述装置包括与被检测件的特征建立坐标关系的导向架;与被检测件的特征、导向架建立坐标关系并将导向架连接在被检测件上的定位件;以及活动导轨,可调节连接在导向架上并用于探头的移动扫查;本发明通过利用被检测件本身具备的特征制作导向装置,能够利用被检测件特征具有的结构特征和精度要求,能够提升被检测件结构上平板焊缝相控阵检测探头沿线扫查精度,且不受被检测件材料影响,无需在检测面划线,即使是表面磨平后仍然能准确控制探头沿线扫查时的精度。
技术领域
本发明涉及检测辅助技术领域,具体涉及一种无损检测导向装置以及扫查方法。
背景技术
相控阵是基于常规超声原理的无损检测技术,相控阵探头含有多个晶片,通过扫查仪器软件对不同的晶片触发延时设定,实现声束的偏转和聚焦,与常规超声使用单一固定角度探头检测焊缝时做锯齿状扫查不同,相控阵可设置成一个扇形角度范围,对被检测区域横截面实现大面积声束覆盖,检测时只需做沿线扫查,实现快速检测。
沿线扫查根据仪器设置的步进距离(探头至焊缝的距离),在扫查面上划线,将探头倚靠于定位尺,保持恒定步进距离扫查。当结构件焊缝余高打磨平后再检测时,观察不到焊缝,划线的速度和精度都将下降,导致检测结果失准。
现技术根据设定的探头步进距离,在焊缝外观手工划线,然后用紧固卡具或磁条将长方体定位尺固定,探头倚靠定位尺扫查,但是依然存在许多问题,例如:
1、手工划线难于保证精度,尤其是焊缝余高磨平的状态下,很难准确识别焊缝位置;
2、一些箱体结构件安放紧固卡具可能受限,或紧固卡具可能影响探头扫查;
3、采用磁条方法仅适用于铁磁性结构件,适用性有限。
另外,现有的相控阵探头扫查导向装置与被检测件之间属于两种独立的设备,没有太多的联动结构,使得被检测件的自带特征没有被使用,例如边线、表面、孔、焊缝本身这些的特征;这些被检测件自带的技术特征自身所具备的精度高于相控阵探头扫查导向装置安装在被检测件的精度。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供利用被检测件自带特征进而提升沿线扫查精度的无损检测导向装置以及扫查方法。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
一种无损检测导向装置,其特征在于,包括
导向架,连接在被检测件上;
定位件,连接在被检测件上并将导向架连接在被检测件上;以及
活动导轨,可调节连接在导向架上并用于探头的移动扫查。
为了解决上述技术问题,本发明采用的另一技术方案为:
一种扫查方法,包括
确定被检测件具有的特征;
设定扫查仪器扫查次数和相应的步进距离;
建立导向架与被检测件的特征的坐标关系,建立定位件与被检测件的特征及导向架的坐标关系;根据步进距离确定活动导轨位置;通过定位件确定导向架在被检测件上的位置;
将扫查仪器的探头沿活动导轨面移动进行扫查。
本发明的有益效果在于:通过利用被检测件本身具备的特征制作导向装置,能够利用被检测件特征具有的结构特征和精度要求,提升被检测件结构上平板焊缝相控阵检测探头沿线扫查精度,且不受被检测件材料影响,无需在检测面划线,即使是表面磨平后仍然能准确控制探头沿线扫查时的精度,提高效率;通过导向装置的使用,确保探头能按照理想化路径扫查;该装置尤其适用于动车组转向架普遍采用的箱体结构上表面焊缝,对类似结构件检测也有参考借鉴意义。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中车唐山机车车辆有限公司,未经中车唐山机车车辆有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010487409.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种聚酰亚胺前体、聚酰亚胺、薄膜及显示装置
- 下一篇:一种污泥烘干设备





