[发明专利]一种兰姆波谐振器结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010454126.1 申请日: 2020-05-26
公开(公告)号: CN111555733A 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 史向龙;苏波 申请(专利权)人: 北京航天微电科技有限公司
主分类号: H03H9/19 分类号: H03H9/19;H03H9/25;H03H9/02;H03H3/10;H03H3/04
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 尉保芳
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 兰姆波 谐振器 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,包括衬底(1)、单晶薄板(2)以及叉指电极(4),所述衬底(1)上表面具有空气腔(3),所述单晶薄板(2)覆盖在所述衬底(1)上并密封住所述空气腔(3),所述单晶薄板(2)上表面设有所述叉指电极(4)。

2.根据权利要求1所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,还包括过渡层(7),所述过渡层(7)夹设于所述衬底(1)和所述单晶薄板(2)之间。

3.根据权利要求1-2任一项所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,所述单晶薄板(2)材料由铌酸锂或者钽酸锂单晶薄板材料制成。

4.根据权利要求1-2任一项所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,所述衬底(1)由硅、二氧化硅、氮化硅、碳化硅、氮化铝、三氧化二铝、砷化镓、氮化镓中一种或者多种材料制成。

5.根据权利要求1-2任一项所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,所述叉指电极(4)的线条宽度为0.25-5微米,所述叉指电极(4)通过切指加权处理。

6.根据权利要求1-2任一项所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,所述单晶薄板(2)厚度为0.05-5μm,所述单晶薄板(2)上下表面粗糙度在1nm以内。

7.一种如权利要求2-6任一项所述兰姆波谐振器结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:清洗单晶材料基板(6),得到清洁单晶材料基板(6);在衬底(1)上表面刻蚀凹槽并在凹槽内填充牺牲层(5),得到带有所述牺牲层(5)的所述衬底(1),抛光带有所述牺牲层(5)的所述衬底(1),得到抛光后衬底(1),在所述抛光后衬底(1)上表面生长一层过渡层(7)用于缓冲过渡;

步骤2:将所述单晶材料基板(6)与所述过渡层(7)晶晶键合;

步骤3:对所述单晶材料基板(6)进行处理得到单晶薄板(2),在所述衬底(1)上表面只留下所述单晶薄板(2);

步骤4:释放所述牺牲层(5),得到空气腔(3);

步骤5:在所述单晶薄板(2)上表面制作叉指电极(4)。

8.根据权利要求7所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,对所述单晶材料基板(6)进行减薄并抛光处理得到所述单晶薄板(2)。

9.根据权利要求7所述一种兰姆波谐振器结构,其特征在于,所述步骤1中,得到清洁单晶材料基板(6)之后,在所述清洁单晶材料基板(6)上形成单晶薄板(2);所述步骤2中,将清洁单晶材料基板(6)上的所述单晶薄板(2)与所述过渡层(7)晶晶键合;所述步骤3中,对所述单晶材料基板(6)处理为去除掉所述单晶材料基板(6)。

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