[发明专利]一种基于软性硅膜片的光纤压力传感器及其检测方法在审
| 申请号: | 202010452720.7 | 申请日: | 2020-05-26 |
| 公开(公告)号: | CN111473896A | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
| 发明(设计)人: | 梁姗姗;程雪园;李新宇 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
| 主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24;G01L11/02 |
| 代理公司: | 深圳市创富知识产权代理有限公司 44367 | 代理人: | 吴族平 |
| 地址: | 510275 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 软性 膜片 光纤 压力传感器 及其 检测 方法 | ||
1.一种基于软性硅膜片的光纤压力传感器,具有直接测量设备或干涉系统,其特征在于,所述压力传感器包括管体、硅膜片与光纤,所述硅膜片粘贴于所述输入光纤形成的光路上,所述光纤置于所述管体内且出射光可照射到硅薄膜。
2.根据权利要求1所述的基于软性硅膜片的光纤压力传感器,其特征在于,所述硅膜片使用硅胶粘贴于所述输入光纤形成的光路中如管口前端,内侧或侧向表面。
3.根据权利要求1所述的基于硅膜片的光纤压力传感器,其特征在于,所述压力传感器的外径可小于2mm。
4.一种利用如权利要求1所述的基于硅膜片的光纤压力传感器检测压力的方法,具有输入光,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1当光到光纤的管口时也会形成一道反射光A;
S2输入光经光纤后穿过空气到达软性硅膜片表面会产生反射光B;
S3反射光A、反射光B经光纤返回耦合器发生干涉经系统解析得到光程差;
S4进而通过计算得到压力值在可测范围内与形变深度之间的函数关系,从而达到能够预测压力的性能。
5.一种利用如权利要求1所述的基于硅膜片的光纤压力传感器检测压力的方法,具有输入光,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1输入光经光纤后穿过空气到达软性硅膜片表面会产生反射光B;
S2可使用反射光B与干涉系统中参考光路的反射光相干涉解析得到光程差。
S3通过计算得到压力值在可测范围内与形变深度之间的函数关系,从而达到能够预测压力的性能。
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