[发明专利]电阻测试电路及电阻测试方法在审

专利信息
申请号: 202010435210.9 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN113702711A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 周健 申请(专利权)人: 圣邦微电子(北京)股份有限公司
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14;G01R1/30
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;张靖琳
地址: 100089 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电阻 测试 电路 方法
【说明书】:

发明涉及电阻测量技术领域,提供了一种电阻测试电路及电阻测试方法,用于测量两个被测电阻的电阻差值,该电阻测试电路包括:分压模块,包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻、第一待测电阻和第二待测电阻;第一测试模块,根据该标准电阻两端的电压生成第一测试电压;第二测试模块,根据该第一待测电阻两端的电压和该第二待测电阻两端的电压生成第二测试电压,其中,该第二测试电压表征该第一待测电阻和第二待测电阻的电阻差值,该电阻测试电路根据该标准电阻的阻值、该第一测试电压和该第二测试电压获得第一待测电阻和第二待测电阻的电阻差值。由此提高了可实现两个被测电阻差值测量的电路的测量精度及该电路的可靠性。

技术领域

本发明涉及电阻测量领域,具体涉及一种电阻测试电路及电阻测试方法。

背景技术

电阻是基本的电参数之一,其测量的方法很多,为了能够准确实用的测量电阻值,对于不同电阻采用的测量方法和使用的仪表不同。

目前测两个电阻的差值的方案是分别测试两个电阻的阻值,然后进行相减运算。现有的一种测试电阻的方案是按照如图1所示的电阻测试电路,对MN两节点之间的电阻阻值R进行测量,这种测量方法被称为四线法测电阻。其中,A端连接的是电流源I,B端接地,C端和D端分别与电阻R的M和N两节点相连接。C端和D端之间连接电压表V。这种测量方式能够避免连线AM和连线BN之间的寄生电阻对测试结果产生影响。测得的电阻阻值是C端和D端连接的电压表V测得的电压值与流过电阻R的电流值的比值。

但该种方法在成测(Final Test)过程中,电阻的测试精度直接受到电压表精度与电流源精度的限制。一般的,测试机台上配置的较高精度的电压表精度是0.05%,电流源精度是0.05%。也就是说在测量电压和测量流过电阻的电流的时候,均会出现万分之五的随机误差。按照现有方案,这两个误差叠加将会使测得的单个电阻的阻值将出现接近千分之一的测试误差,对两个电阻阻值做差后将出现千分之二的误差,这显然是不能满足高精度的电阻阻值差值的测量需求,同时其可靠性较差。

发明内容

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种电阻测试电路及电阻测试方法,可以提高两个被测电阻的差值测量电路的测量精度,同时提高了测试系统的可靠性。

一方面本发明提供了一种电阻测试电路,用于测量两个被测电阻的电阻差值,该电阻测试电路包括:

分压模块,包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻、第一待测电阻和第二待测电阻;

第一测试模块,其输入端连接标准电阻的两端形成第一路径,根据该标准电阻两端的电压生成第一测试电压;

第二测试模块,其输入端分别连接在第一待测电阻的两端和第二待测电阻的两端,根据该第一待测电阻两端的电压和该第二待测电阻两端的电压生成第二测试电压,

其中,该第二测试电压表征前述第一待测电阻和前述第二待测电阻的电阻差值,该电阻测试电路根据标准电阻的阻值、第一测试电压和前述第二测试电压获得该第一待测电阻和该第二待测电阻的电阻差值。

优选地,第二测试模块包括:

第一测试单元,其输入端连接第一待测电阻的两端形成第二路径,根据该第一待测电阻两端的电压生成第三测试电压;

第二测试单元,其输入端连接第二待测电阻的两端形成第三路径,根据该第二待测电阻两端的电压生成第四测试电压;

第三测试单元,其输入端分别连接前述第一测试单元的输出端和前述第二测试单元的输出端,根据前述第三测试电压和前述第四测试电压生成前述的第二测试电压。

优选地,该第一测试模块包括第一放大器。

优选地,该第一测试单元包括第三放大器,该第二测试单元包括第四放大器,该第三测试单元包括第二放大器。

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