[发明专利]一种ADC性能测试电路、芯片和设备

权利要求书

1.一种ADC性能测试电路，其特征在于，包括：

测试模块，放置有待测芯片，用于接入对应ADC通道所输入的测试信号至所述待测芯片，并将产生的测试数据先从ADC通道的数据寄存器存储到数组中，再将数组中的测试数据搬运到第一储存模块；

控制模块，与所述测试模块连接，用于读取所述第一储存模块储存的所述测试数据进行处理得到所述待测芯片的静态参数和动态参数。

2.根据权利要求1所述的ADC性能测试电路，其特征在于，还包括：

供电模块，用于接入供电电源并转换输出第一工作电源、第二数字工作电源和第二模拟工作电源，以向所述测试模块和控制模块供电。

3.根据权利要求2所述的ADC性能测试电路，其特征在于，所述供电模块包括：第一电压转换单元、第二电压转换单元和第三电压转换单元；

所述第一电压转换单元，用于接入所述供电电源并转换输出第一工作电源和第二工作电源；

所述第二电压转换单元，与所述第一电压转换单元连接，用于将所述第二工作电源转换为所述第二数字工作电源；

所述第三电压转换单元，与所述第一电压转换单元连接，用于将所述第二工作电源转换为所述第二模拟工作电源。

4.根据权利要求3所述的ADC性能测试电路，其特征在于，所述第一电压转换单元包括：电源接入连接器、第一转换连接器、第一连接器、第一电压转换器和第二连接器；

所述电源接入连接器的第二接口和第三接口分别接入所述供电电源后接地，所述电源接入连接器的第一接口与所述第一转换连接器的第一接口连接；

所述第一转换连接器的第二接口分别与所述第一电压转换器的电源输入引脚、所述第一连接器的第一接口和第二接口连接输出所述第二工作电源；

所述第一电压转换器的接地引脚通过第一电容组与所述第一电压转换器的电源输入引脚连接后接地；

所述第一电压转换器的接地引脚通过第二电容组与所述第一电压转换器的电源输出引脚连接后接地；

所述第一电压转换器的电源输出引脚与所述第二连接器的第一接口连接，所述第二连接器的第二接口输出所述第一工作电源。

5.根据权利要求3所述的ADC性能测试电路，其特征在于，所述第二电压转换单元包括：第三连接器、第二电压转换器和第四连接器；

所述第三连接器的第一接口接入所述第二工作电源，所述第三连接器的第二接口分别与所述第二电压转换器的电源输入引脚和第三电容组的一端连接，所述第三电容组的另一端接地；

所述第二电压转换器的电源输入引脚与所述第二电压转换器的使能引脚短接，所述第二电压转换器的接地引脚接地；

所述第二电压转换器的采样反馈引脚分别与第一可调电阻和第一电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端接地；

所述第一可调电阻与所述第二电压转换器的电源输出引脚连接后与所述第四连接器的第一接口连接，所述第四连接器的第二接口输出所述第二数字工作电源。

6.根据权利要求3所述的ADC性能测试电路，其特征在于，所述第三电压转换单元包括：第五连接器、第三电压转换器和第六连接器；

所述第五连接器的第一接口接入所述第二工作电源，所述第五连接器的第二接口分别与所述第三电压转换器的电源输入引脚连接和第四电容组的一端连接，所述第四电容组的另一端接模拟地；

所述第三电压转换器的电源输入引脚与所述第三电压转换器的使能引脚短接，所述第三电压转换器的接地引脚接模拟地；

所述第三电压转换器的采样反馈引脚分别与第二可调电阻和第二电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端接模拟地；

所述第二可调电阻与所述第三电压转换器的电源输出引脚连接后与所述第六连接器的第一接口连接，所述第六连接器的第二接口输出所述第二数字工作电源。