[发明专利]一种屏幕裂纹的检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种屏幕裂纹的检测方法，其特征在于，包括：

获取被测屏幕的屏幕图像，并确定所述屏幕图像的像素分割阈值；

根据所述像素分割阈值从所述屏幕图像中分割出至少一个疑似缺陷像素点，并对各所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点；

根据所述真实缺陷像素点的像素信息确定所述被测屏幕的裂纹信息；

所述对各所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点，包括：

针对每个疑似缺陷像素点，根据预设距离确定与所述疑似缺陷像素点对应的周期像素点，并将所述周期像素点的像素值作为周期像素值；其中，所述预设距离包括制程纹理周期距离；

根据所述周期像素值对所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点；

所述根据所述周期像素值对所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点，包括：

判断所述疑似缺陷像素点的像素值与所述周期像素值的差值是否大于等于预设差值阈值；

将像素值大于等于预设差值阈值的所述疑似缺陷像素点作为真实缺陷像素点；

所述预设距离包括上一周期距离和/或下一周期距离，相应的，所述周期像素值包括上一周期像素值和/或下一周期像素值；所述根据所述周期像素值对所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点，包括：

根据所述上一周期像素值和/或下一周期像素值对所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点；

所述预设距离还包括浮动距离范围，相应地，所述根据预设距离确定与所述疑似缺陷像素点对应的周期像素点，包括：

根据所述制程纹理周期距离，确定与所述疑似缺陷像素点对应的中心像素点；

将与所述中心像素点的距离满足浮动距离范围的至少两个像素点中，最大像素值对应的像素点作为周期像素点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述屏幕图像的像素分割阈值，包括：

对所述屏幕图像中的像素点的像素值进行直方图统计；

基于直方图统计的结果，确定各像素值对应的累加像素点个数与所述屏幕图像的总像素点个数之间的比值；

根据各所述比值和预设像素个数比例确定所述屏幕图像的灰度代表值；

基于所述灰度代表值确定所述屏幕图像的像素分割阈值；其中，所述像素分割阈值大于所述灰度代表值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述真实缺陷像素点的像素信息确定所述被测屏幕的裂纹信息，包括：

当所述真实缺陷像素点的数量为至少两个时，根据所述真实缺陷像素点的位置坐标，计算任意两个真实缺陷像素点之间的像素距离；

如果所述像素距离小于预设距离阈值，则将与所述像素距离对应的两个真实缺陷像素点之间的像素点作为真实缺陷像素点，确定裂纹图像；

根据所述裂纹图像，确定所述被测屏幕的裂纹信息。

4.一种屏幕裂纹的检测装置，其特征在于，包括：

像素分割阈值确定模块，用于获取被测屏幕的屏幕图像，并确定所述屏幕图像的像素分割阈值；

真实缺陷像素点确定模块，用于根据所述像素分割阈值从所述屏幕图像中分割出至少一个疑似缺陷像素点，并对各所述疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点；

裂纹信息确定模块，用于根据所述真实缺陷像素点的像素信息确定所述被测屏幕的裂纹信息；

真实缺陷像素点确定模块包括：

周期像素值确定单元，用于针对每个疑似缺陷像素点，根据预设距离确定与疑似缺陷像素点对应的周期像素点，并将周期像素点的像素值作为周期像素值；其中，预设距离包括制程纹理周期距离；

真实缺陷像素点确定单元，用于根据周期像素值对疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点；判断疑似缺陷像素点的像素值与周期像素值的差值是否大于等于预设差值阈值；将像素值大于等于预设差值阈值的疑似缺陷像素点作为真实缺陷像素点；根据上一周期像素值和/或下一周期像素值对疑似缺陷像素点进行校验确定真实缺陷像素点；

预设距离还包括浮动距离范围，周期像素值确定单元还用于：

根据制程纹理周期距离，确定与疑似缺陷像素点对应的中心像素点；将与中心像素点的距离满足浮动距离范围的至少两个像素点中，最大像素值对应的像素点作为周期像素点。