[发明专利]一种光学相干弹性成像方法及装置

权利要求书

1.一种光学相干弹性成像系统，其特征在于，包括：成像单元、声辐射力激发单元和耦合单元；其中，

所述声辐射力激发单元，用于形成多束超声声束向待测样品传输，以使多束所述超声声束诱发待测样品产生第一弹性波和第二弹性波，所述第一弹性波的传播方向为第一方向，所述第二弹性波的传播方向为第二方向，所述第一方向与所述第二方向垂直；

所述成像单元，用于向所述待测样品传输探测光束，并接收所述待测样品反射和散射的探测光束，和用于利用光学相干层析成像方法，根据反射和散射的所述探测光束对所述第一弹性波和所述第二弹性波进行成像，并根据成像结果获取所述待测样品在第一方向上的弹性信息和所述待测样品在第二方向上的弹性信息；

所述耦合单元包括声反射面和光入射面，所述声反射面具有光学透明特性和声反射特性；

所述探测光束通过所述光入射面入射，并透过所述声反射面向待测样品传输，所述超声声束被所述声反射面反射后，与所述探测光束沿同一方向或相近方向向所述待测样品传输。

2.根据权利要求1所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，所述耦合单元包括：第一介质结构、中间介质结构和第二介质结构；其中，

所述中间介质结构设置于所述第一介质结构和所述第二介质结构之间，所述第一介质结构包括所述光入射面；

所述第二介质结构包括声入射面，所述中间介质结构与所述第二介质结构的接触面为所述声反射面。

3.根据权利要求2所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，所述第一介质结构的光学折射率、第二介质结构的光学折射率以及所述中间介质结构的光学折射率的差值小于第一预设差值；

所述第二介质结构的声阻抗与所述中间介质结构的声阻抗的差值大于第二预设差值。

4.根据权利要求3所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，所述第一介质结构和第二介质结构均为棱镜，所述中间介质结构为硅油层或水层；

或

所述第一介质结构和第二介质结构均为硅油层或水层或磷酸缓冲盐溶液层或生理盐水层，所述中间介质结构为玻璃层。

5.根据权利要求1所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，所述使多束所述超声声束诱发待测样品产生第一弹性波和第二弹性波包括：

利用多个所述超声声束，在所述待测样品中形成多点的振源，所述多点的振源诱发所述待测样品表面和/或内部产生所述第一弹性波和所述第二弹性波。

6.根据权利要求5所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，当所述第一弹性波和所述第二弹性波位于所述待测样品表面时，所述第一弹性波和所述第二弹性波分别为表面瑞利波和纵向剪切波。

7.根据权利要求5所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，当所述第一弹性波和所述第二弹性波位于所述待测样品内部时，所述第一弹性波和所述第二弹性波分别为纵向剪切波和横向剪切波。

8.根据权利要求5所述的光学相干弹性成像系统，其特征在于，所述利用光学相干层析成像方法，根据反射和散射的所述探测光束对所述第一弹性波和所述第二弹性波进行成像，并根据成像结果获取所述待测样品在第一方向上的弹性信息和所述待测样品在第二方向上的弹性信息包括：

利用光学相干层析成像方法，根据反射和散射的所述探测光束对所述待测样品表面的所述第一弹性波和所述第二弹性波进行成像，并根据成像结果获取所述待测样品表面在第一方向上的弹性信息和所述待测样品表面在所述第二方向上的弹性信息；

利用光学相干层析成像方法，根据反射和散射的所述探测光束对所述待测样品内部的所述第一弹性波和所述第二弹性波进行成像，并根据成像结果获取所述待测样品表面在第一方向上的弹性信息和所述待测样品表面在所述第二方向上的弹性信息。