[发明专利]一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统

说明书

本发明公开一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统，上述测试适配器包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，所述插座上设有与待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连。本发明能够实现对普通晶体振荡器较精确的测试。本发明还提供一种晶体振荡器的测试系统。

技术领域

本发明涉及电性能测试技术领域，尤其涉及一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统。

背景技术

晶体振荡器是高精度和高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中，也会被用于通信系统中，具体用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。

而晶体振荡器的传统的测试方法主要通过电源线、测试探头、测试线缆与晶体振荡器的管脚直接连接的方式实现，连接过程中会对晶体振荡器的管脚造成不必要的伤害，测试效率低，不适用于晶体振荡器可靠性筛选与测试的要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统，避免在测试过程中对晶体振荡器的管脚造成伤害，以提高晶体振荡器测试和筛选的可靠性。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明是一种晶体振荡器的测试适配器，包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，插座上设有与待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连，在适配器壳体内还安装有第二电容，第二电容的其中一极设在电阻与频率输出接头之间的电路上，第二电容的另一极接地。

与传统测试方法相比，本发明通过将待测晶振直接放置在测试适配器的插座上，不仅能满足保护晶体振荡器管脚的测试要求，对待测晶振无损伤，而且通过晶体振荡器的管脚与插座的配合，快速完成晶体振荡器与各测试设备的连接，提高晶体振荡器的测试效率；通过设置相应的电容和电阻，降低纹波干扰，提高测试精度。与现有技术相比，本发明结构简单，测试可靠，能够实现对普通晶体振荡器较精确的测试，满足晶体振荡器的可靠性筛选与测试的要求。

优选地，插座为DIP-14插座。

优选地，DIP-14插座上至少设有两个电压控制端，两个电压控制端相连。

优选地，DIP-14插座上至少设有两个电源端，两个电源端相连。

优选地，在适配器壳体上装有与DIP-14插座相连接的电源转接头。

优选地，第一电容为10-100μF的电容器和/或0.01-0.1μF的陶瓷去耦电容器。

优选地，在适配器壳体内还安装有第二电容，第二电容的其中一极设在电阻与频率输出接头之间的电路上，第二电容的另一极接地。

本发明还提供一种晶体振荡器的测试系统，该测试系统包括直流稳压电源、上述的测试适配器、示波器、频率计以及铷钟，待测晶体振荡器装在测试适配器具有的插座上，测试适配器具有的电源端与直流稳压电源相连，测试适配器具有的频率输出端通过测试探头与示波器相连，测试适配器具有的频率输出端及铷钟均与频率计相连，在测试适配器具有的电源端与电压控制端之间还连接有数字万用表。

本发明提供的晶体振荡器的测试系统具有与本发明提供的晶体振荡器的测试适配器相同的有益效果，在此不再赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：