[发明专利]一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统在审
| 申请号： | 202010324509.7 | 申请日： | 2020-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN111624419A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 雷洁;高鹏鹏 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/28 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 晶体振荡器 测试 适配器 系统 | ||
1.一种晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，所述插座上设有与所述待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连。
2.根据权利要求1所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：所述插座为DIP-14插座。
3.根据权利要求2所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：所述DIP-14插座上至少设有两个电压控制端，两个电压控制端相连。
4.根据权利要求2所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：所述DIP-14插座上至少设有两个电源端，两个电源端相连。
5.根据权利要求3或4所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：在所述适配器壳体上装有与DIP-14插座相连接的电源转接头。
6.根据权利要求1所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：第一电容为10-100μF的电容器和/或0.01-0.1μF的陶瓷去耦电容器。
7.根据权利要求1所述的晶体振荡器的测试适配器，其特征在于：在所述适配器壳体内还安装有第二电容，第二电容的其中一极设在电阻与频率输出接头之间的电路上，第二电容的另一极接地。
8.一种晶体振荡器的测试系统，其特征在于：该系统包括直流稳压电源、权利要求1-7任一项所述的测试适配器、示波器、频率计以及铷钟，被测的晶体振荡器装在测试适配器的插座上，测试适配器的电源端与直流稳压电源相连，测试适配器的频率输出端通过测试探头与示波器相连，测试适配器的频率输出端及铷钟均与频率计相连，在测试适配器的电源端与电压控制端之间还连接有数字万用表。
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