[发明专利]电子装置

说明书

本发明公开了一电子装置，其包括基板、第一衬垫设置在该基板上、第二衬垫与该第一衬垫相对设置以及一导电粒子设置在该第一衬垫与该第二衬垫之间。该第一衬垫具有一凹陷，且该导电粒子的一部分陷入该凹陷中。

技术领域

本发明涉及一种电子装置，特别是涉及一种具有可电性连接的衬垫(pad)的电子装置。

背景技术

随着科技的发展，电子产品已被广泛的用在日常生活中，因此制造业仍迫切需要改善电子元件之间的电性连接质量，以改善电子装置的可靠度。

发明内容

本发明的目的之一提供一种具有特殊结构的电子装置，其提供了衬垫(pad)之间较可靠的电性连接。

本发明的一实施例提供一电子装置，其包括一基板、一第一衬垫设置在该基板上、一第二衬垫与该第一衬垫相对设置以及一导电粒子设置在该第一衬垫与该第二衬垫之间。该第一衬垫具有一凹陷，且该导电粒子的一部分陷入(sink)该凹陷中。

本发明的另一实施例提供一电子装置，其包括一基板、一第一衬垫设置于该基板上以及一导电粒子设置在该基板上但不与该第一衬垫重叠。该第一衬垫具有一凹陷，该凹陷具有第一宽度，该导电粒子具有一第三宽度，该第一宽度对第三宽度的比值的范围为0.25到1。

附图说明

图1为本发明第一实例的电子装置的俯视示意图。

图2为图1的电子装置的局部剖面示意图。

图3为图2所示的电子装置的局部放大示意图。

图4为本发明第二实施例的电子装置的第一衬垫示意图。

图5为本发明第三个实施例的电子装置的第一衬垫示意图。

图6为本发明第一示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜(SEM)的局部外形示意图。

图7为本发明第二示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜的局部外形示意图。

图8为本发明第三示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜的局部外形示意图。

图9为本发明第四示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜的局部外形示意图。

图10为本发明第五示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜的局部外形示意图。

图11为本发明第六示范实施例的电子装置的光学显微镜(OM)的局部外形示意图。

图12为本发明第六示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜的局部外形示意图。

图13为本发明第七示范实施例的电子装置的扫描式电子显微镜的局部外形示意图。

图14为本发明第八示范实施例的电子装置的3D光学显微镜的局部外形示意图。

图15为沿着图14的线段OML所做的3D光学显微镜的外形曲线示意图。

图16为本发明第九示范实施例的电子装置的3D光学显微镜的局部外形示意图。